Eine der Teststrategien, die Berner & Mattner gemeinsam mit den Testern der Automobilhersteller entwickelt hat, basiert darauf, die originale Leistungselektronik zu zerlegen. Hierzu greift man an geeigneten Stellen innerhalb des Steuergerätes die für die Regelung wichtigen Signale für Strom und Spannung ab - noch vor den Hochvolt-Leistungsbauteilen. So kann der Einsatz von Hochspannung und hohen Strömen beim Test umgangen werden. Die Tester werden nicht gefährdet, und beim Aufbau des Testsystems entfallen teure Komponenten wie Netzumrichter, Kühlung und Lastapparate. Stattdessen werden die Hochspannungs- und Strommesseinheiten über entsprechend schnelle Simulationsmodelle und Hardware zur Signalanpassung stimuliert (Bild 2). Für den Steuergeräteprozessor und die Software ist diese Manipulation unerheblich und vom realen Anwendungsfall nicht zu unterscheiden. So können nahezu alle vorkommenden Testszenarien und Schnittstellentests für das E-Antriebssteuergerät am HiL-Testsystem durchgeführt werden. Auch Fehler am Hochvoltsystem lassen sich so gefahrlos simulieren, um Fehlerqualifizierung und Sicherheitsmechanismen systematisch zu testen.