Produkt

Forschung und Lehre

Neues Messverfahren spürt Defekte auf

MOSFETs tief ins Herz geschaut

Forscher der Uni Erlangen-Nürnberg haben eine neue Methode entwickelt, mit der sie Defekte in SiC-Transistoren genauer, schneller und einfacher aufspüren können.

Artificial Intelligence

Space Robot Successfully Tested

The exploration of Mars and the moon is a great dream for mankind. The EU also wants to…

Max-Born-Institut in Berlin

Ultrakurze Stromstöße durch gleichgerichtetes Licht

Wissenschaftler am Max-Born-Institut haben gerichtete Ströme bei Terahertzfrequenzen …

Forschung

Cern-Physiker planen gigantischen neuen Teilchenbeschleuniger

Es ist schon die größte Forschungsmaschine der Welt: der Teilchenbeschleuniger beim Cern…

Künstliche Intelligenz

Weltraumroboter erfolgreich getestet

Die Erforschung von Mars und Mond ist ein großer Traum für die Menschheit. Auch die EU…

Friedrich-Alexander-Universität

SiC besser verstehen

Forscher der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU) haben eine einfache…

Künstliche Intelligenz

Zwei neue Professuren am KIT geschaffen

Deutschland will weiter in KI als Schlüsseltechnologie investieren. Baden-Württemberg geht…

Phase Change Memories

Neuer PCM-Typ: Schnell und zuverlässig

Wissenschaftlern ist es gelungen, einen neuen Phase-Change-Memory-Typ zu entwickeln, der…

Imec/TNO

Disposable Patch for the Measurement of Vital Parameters

At CES 2019, the Belgian research center Imec and TNO (Dutch Organization for Applied…

Fortune

IBM bleibt Patentweltmeister

Auch 2018 konnte IBM den ersten Platz im Fortune-Ranking ergattern, in dem die Firmen…