Testsysteme

Fraunhofer IPMS startet Projekt »SMut«

Neues Level der Dünnfilmcharakterisierung

Im Rahmen des Projekts »SMut« entwickelt das Fraunhofer IPMS mit zwei Partnern ein neues Messsystem zur Dünnfilmcharakterisierung, das neue Maßstäbe in der Charakterisierung organischer Materialien setzt.

Neumonda

Full-Speed GDDR5-Tests auf der embedded world 2026

Neumonda wird auf der embedded world 2026 ihr komplettes Portfolio an DRAM-Testboards...

Automatisiertes Datenmanagement

Plattform schafft Basis für KI in der Halbleiterentwicklung

Keysight erweitert die SOS-Core-Softwareplattform für das Management von...

KI-gestützte Wafer- und Maskeninspektion

Siemens integriert KI-Messtechnik von Canopus AI

Siemens hat das Softwareunternehmen Canopus AI übernommen, einen Anbieter KI- und...

Der nächste Schritt im Elektroniktest

»FPGAs werden zu Testzentren für den automatischen Boardtest«

Die Zukunft des Elektroniktests liegt im Design selbst. FPGAs mit integrierten...

Dreifach-Zertifizierung durch Viscocert

Spea erfüllt ISO-Normen für Qualität, Umwelt und Arbeitsschutz

Die Spea GmbH hat die Viscocert-Prüfungen nach ISO 9001:2015, ISO 14001:2015 und ISO...

Langer EMV-Technik

Optimierung von Elektronik-Designs und Troubleshooting

Mit dem »PT4«-Set hat Langer EMV-Technik ein Werkzeug entwickelt, mit dem die...

Testsystem fürs Megawatt-Laden

HIL-Tests mit bis zu 3,84 MW Ladeleistung

Das Hardware-in-the-Loop-Testsystem vCTS.performance von Vector Informatik ermöglicht...

Prüfsystem für präzise LED-Board-Tests

Neue Spektralkamera-Technologie vereinfacht LED-Prüfung

Ohne teure optische Adapter oder Glaserfasertechnologien kommt der LED-Tester T100L von...

Spannende Exponate

Prüftechnik auf der productronica 2025

Prüftechnik ist ein wichtiger Baustein der Elektronikfertigung. Daher dürfen die...