Testsysteme

© ETH Zürich / Hilpert Electronics

ETH Zürich, MPI und Hilpert Electronics

Wafer-Testsysteme im Forschungseinsatz

Das Institut für Integrierte Systeme der ETH Zürich setzt für die akademische Forschungsumgebung auf maßgeschneiderte Testsysteme von MPI Advanced Semiconductor Test und den Support von Hilpert Electronics. Wichtig ist hier das effiziente…

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© Mahr-Gruppe

Optische Oberflächenmesstechnik

Mahr übernimmt Optosurf

Mahr erweitert sein Portfolio im Bereich der optischen Oberflächenmesstechnik und hat dazu…

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© Yingyaipumi/stock.adobe.com

Automotive-Hard- und Software-Expertise

Vector Informatik übernimmt CSM

Zum 1. Juli 2024 hat der Softwarespezialist Vector Informatik den Messtechnikhersteller…

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© Toray Engineering

Schnelle, hochpräzise 100-%-Prüfungen

KI-Booster für die Wafer-Inspektion

Mit seiner Inspectra-Serie setzt Toray Engineering neue Maßstäbe bei der Wafer-Inspektion.…

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© Engmatec / TOP 100

Mit Innovationspreis ausgezeichnet

Engmatec erhält „TOP-100“-Award

Auf dem Deutschen Mittelstands-Summit war es endlich so weit: Ranga Yogeshwar überreichte…

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© Acculogic / Göpel Electronic

Für höhere Testabdeckung und -tiefe

Interaktive Flying-Probe-/Boundary-Scan-Tests

Acculogic und Göpel Electronic haben ihr Basis-Integrationspaket zur Kombination des…

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© Advantest

Advantest baut Testsystem-Plattform aus

32-Kanal-Hochleistungsnetzteil für SoC-Tester

Für die SoC-Testplattform V93000 EXA Scale von Advantest gibt es nun ein neues…

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© Gorodenkoff|stock.adobe.com

Baugruppenfertigung

Boundary Scan für den effizienten RAM-Test

Hochkomplexe Komponenten wie etwa RAM-Speicherbausteine stellen im Baugruppentest…

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© Neumonda

Die Product-Learning-Phase ist erreicht

Revolutionärer Speicher-IC-Test

Auf der embedded world 2023 hatte Neumonda Technology angekündigt, die Invest-Kosten und…

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© Langer EMV-Technik

Langer EMV-Technik

EM-Fehlerinjektion bis 1000 V

Mit dem zunehmenden Fokus auf Embedded Security stellt Langer EMV-Technik ein neues Tool…

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