Testsysteme

© Toray Engineering

Schnelle, hochpräzise 100-%-Prüfungen

KI-Booster für die Wafer-Inspektion

Mit seiner Inspectra-Serie setzt Toray Engineering neue Maßstäbe bei der Wafer-Inspektion. Das Geheimnis ist ein KI-Algorithmus, der eine präzise Klassifikation von Defekten liefert. Interessant sind die Systeme vor allem für die Automobilindustrie.

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© Engmatec / TOP 100

Mit Innovationspreis ausgezeichnet

Engmatec erhält „TOP-100“-Award

Auf dem Deutschen Mittelstands-Summit war es endlich so weit: Ranga Yogeshwar überreichte…

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© Acculogic / Göpel Electronic

Für höhere Testabdeckung und -tiefe

Interaktive Flying-Probe-/Boundary-Scan-Tests

Acculogic und Göpel Electronic haben ihr Basis-Integrationspaket zur Kombination des…

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© Advantest

Advantest baut Testsystem-Plattform aus

32-Kanal-Hochleistungsnetzteil für SoC-Tester

Für die SoC-Testplattform V93000 EXA Scale von Advantest gibt es nun ein neues…

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© Gorodenkoff|stock.adobe.com

Baugruppenfertigung

Boundary Scan für den effizienten RAM-Test

Hochkomplexe Komponenten wie etwa RAM-Speicherbausteine stellen im Baugruppentest…

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© Neumonda

Die Product-Learning-Phase ist erreicht

Revolutionärer Speicher-IC-Test

Auf der embedded world 2023 hatte Neumonda Technology angekündigt, die Invest-Kosten und…

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© Langer EMV-Technik

Langer EMV-Technik

EM-Fehlerinjektion bis 1000 V

Mit dem zunehmenden Fokus auf Embedded Security stellt Langer EMV-Technik ein neues Tool…

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© Mettler Toledo

Für langlebige Lithium-Ionen-Batterien

Spektralanalyse sichert Elektrolyt-Qualität

Flüssige Elektrolyte spielen für die Leistung und Lebensdauer von Batterien eine zentrale…

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© Messring

Dierk Arp geht in den Ruhestand

Neue Geschäftsleitung für Crashtest-Spezialist Messring

Nach 30 Jahren an der Spitze von Messring geht Geschäftsführer Dierk Arp in den Ruhestand.…

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© stock.adobe.com

Testbench in Hardware

Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf

Die modulare Analog-Mixed-Signal-Testplattform AMS ASIC Scope von IMMS hilft bei der…

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