Testsysteme

Langer EMV-Technik

EM-Fehlerinjektion bis 1000 V

Mit dem zunehmenden Fokus auf Embedded Security stellt Langer EMV-Technik ein neues Tool vor: die ICI-DP-Serie für die Analyse sicherheitskritischer Komponenten durch EM-Fehlerinjektion.

Für langlebige Lithium-Ionen-Batterien

Spektralanalyse sichert Elektrolyt-Qualität

Flüssige Elektrolyte spielen für die Leistung und Lebensdauer von Batterien eine...

Dierk Arp geht in den Ruhestand

Neue Geschäftsleitung für Crashtest-Spezialist Messring

Nach 30 Jahren an der Spitze von Messring geht Geschäftsführer Dierk Arp in den...

Testbench in Hardware

Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf

Die modulare Analog-Mixed-Signal-Testplattform AMS ASIC Scope von IMMS hilft bei der...

Neue Testmethode von ERS

Testkosten für GPUs und KI-Chips fallen drastisch

Erstmals werden jetzt komplexe ICs unter Spannung und mit Temperatur nicht erst im...

Leiterplatten- und End-of-Line-Prüfung

Flexible Schnittstelle für Prüfling und Testgerät

In der Mess- und Prüftechnik kommt es auf valide Ergebnisse an. Basierend auf einer...

Rafi setzt auf Spea-Tester

»Für jede Produktionsphase das passende Testverfahren«

Electronics Engineering and Manufacturing Services, kurz E2MS - damit will sich Rafi im...

Interview mit Dr. Thomas Däubler, MCD

»Wir werden das Unternehmen in die nächste Phase führen«

Mit Blick auf eine verantwortungsvolle Nachfolgeregelung übergibt Bruno Hörter, der vor...

Interview mit Bruno Hörter, MCD

»Es gab so viele Meilensteine, dass man sie kaum aufzählen kann«

Bruno Hörter, der vor 40 Jahren die MCD Elektronik GmbH gründete und seither führt,...

Spea auf der productronica 2023

Neues Flying-Head-LED-Testsystem

Spea hat ein neues Testsystem für den Test von LEDs entwickelt, das eine vollständige...