Testsysteme

Für höhere Testabdeckung und -tiefe

Interaktive Flying-Probe-/Boundary-Scan-Tests

Acculogic und Göpel Electronic haben ihr Basis-Integrationspaket zur Kombination des Flying Probe Testers FLS 980Dxi mit den Embedded JTAG Solutions von Göpel um ein hochinteressantes neues Feature erweitert.

Advantest baut Testsystem-Plattform aus

32-Kanal-Hochleistungsnetzteil für SoC-Tester

Für die SoC-Testplattform V93000 EXA Scale von Advantest gibt es nun ein neues…

Baugruppenfertigung

Boundary Scan für den effizienten RAM-Test

Hochkomplexe Komponenten wie etwa RAM-Speicherbausteine stellen im Baugruppentest…

Die Product-Learning-Phase ist erreicht

Revolutionärer Speicher-IC-Test

Auf der embedded world 2023 hatte Neumonda Technology angekündigt, die Invest-Kosten und…

Langer EMV-Technik

EM-Fehlerinjektion bis 1000 V

Mit dem zunehmenden Fokus auf Embedded Security stellt Langer EMV-Technik ein neues Tool…

Für langlebige Lithium-Ionen-Batterien

Spektralanalyse sichert Elektrolyt-Qualität

Flüssige Elektrolyte spielen für die Leistung und Lebensdauer von Batterien eine zentrale…

Dierk Arp geht in den Ruhestand

Neue Geschäftsleitung für Crashtest-Spezialist Messring

Nach 30 Jahren an der Spitze von Messring geht Geschäftsführer Dierk Arp in den Ruhestand.…

Testbench in Hardware

Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf

Die modulare Analog-Mixed-Signal-Testplattform AMS ASIC Scope von IMMS hilft bei der…

Neue Testmethode von ERS

Testkosten für GPUs und KI-Chips fallen drastisch

Erstmals werden jetzt komplexe ICs unter Spannung und mit Temperatur nicht erst im…

Leiterplatten- und End-of-Line-Prüfung

Flexible Schnittstelle für Prüfling und Testgerät

In der Mess- und Prüftechnik kommt es auf valide Ergebnisse an. Basierend auf einer…