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IC-Fertigung: Schneller, zuverlässiger und kosteneffizienter soll sie sein

Optimierter IC-Test

31. März 2011, 15:09 Uhr | Nicole Wörner

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Fortsetzung des Artikels von Teil 2

Die Q-Star-Lösung

Q-Star hat eine Methode entwickelt, die die Strommessung sehr schnell macht, und das bei einer sehr hohen Wiederholrate. Kern der Testlösung sind die kompakten Q-Star-Test-Module. Sie werden typischerweise auf dem Interface Board positioniert, wo das Produkt, also der IC, mit dem ATE-Tester geprüft wird. Die Module arbeiten unabhängig vom ATE, sind leicht einsetzbar und beeinflussen die Testbedingungen nicht. Der ATE-Tester erkennt das Modul als Teil des zu testenden Produktes, und aus Sicht des Produktes gehört das Modul zum ATE-Tester. Im Endeffekt bieten die Q-Star-Module dem Testsystem unabhängige IDD/ISS-Messfunktionen an, erweitern also dessen Funktionalität und reduzieren die Testzeiten.

»ATE-Tester erreichen typischerweise eine Auflösung und Wiederholbarkeit von 0,1 bis 0,2 Prozent des Messbereichs, was die Erfassung von Defekten in der Gegenwart von hohen Hintergrundströmen stark begrenzt«, so ein Experte von Q-Star. »Die Q-Star-Produkte bieten eine Auflösung und Wiederholbarkeit von 0,01 bis 0,001 Prozent des Messbereichs, so dass selbst kleinste Defekte auch bei hohen Hintergrundströmen erkannt werden. In konkreten Anwendungen konnten selbst unter Produktions-Testbedingungen bei Strömen von 10 A Abweichungen von 20 µA mit Q-Star-Produkten zuverlässig gemessen werden.« Darüber hinaus würden ATE-Tester für Strommessungen typischerweise 10 bis 100 ms pro Messung benötigen, im Vergleich dazu bräuchten Q-Star-Testmodule nur 100 bis 150 µs für die gleiche Messung mit gleichzeitig deutlich höherer Genauigkeit.

Q-Stars Ruhestrom-Testmodule (IDDQ- oder ISSQ-Module) finden zum Beispiel Einsatz in den Anwendungsgebieten Standard- und erweiterte IDDQ-Tests, Stand-by-, Power-down-, Bias- und Mittelwert-Strommessungen sowie Analog-, DC- und Niederfrequenz-Stromessungen. Die Testmodule für die dynamische Strommessung (IDDT-Module) bieten ebenso ein breites Anwendungsfeld: Dynamische Tests, Einschaltstrom-Tests, Leistungsprofile von Schaltungen und Systemen, aktive Stromaufnahme und Validierung von e-fuse-Programmierungen.