Die französische Aster Technologies, Spezialist zum Thema Leiterplatten-Testability- und -Testcoverage-Analyse, hat auf der Messe ein neues Tool vorgestellt, mit dem sich bereits im frühen Stadium der Produktion die Fertigungsausbeute abschätzen lässt.
Yield-Estimation heißt das Schlagwort. Die Möglichkeit, die Linienausbeute (First Pass Yield, FPY) und weitere Qualitätskennzahlen des IPC bestimmen zu können, gewinnt im Umfeld der zunehmenden Auslagerung der Produktion an Fremdfirmen immer mehr an Bedeutung. Dabei ist es vor allem die Fehlerschlupfrate, die zur Bewertung der Qualität eines gelieferten Produkts herangezogen wird.
TestWay Express prognostiziert die Produktionsausbeute, indem es die in ppm ausgedrückten Fehler pro einer Million Fehlermöglichkeiten (DPMO) in Echtzeit aus den Fertigungsprozessen importiert und die Teststrategie darauf ausrichtet, die bestmögliche Testabdeckung dieser Fehler zu erzielen und so den Fehlerschlupf zu minimieren.
»Dass ein Leiterplattentest bestanden wird, heißt nicht notwendigerweise, dass die Leiterplatte auch in Ordnung ist, sondern es kann auch die Testabdeckung lückenhaft sein«, erklärt Christophe Lotz, Geschäftsführer von Aster. »Daher ist es wichtig, mittels der IPC-Qualitätskennzahlen die Fehler mit der Testabdeckung in TestWay Express zu verknüpfen.« Die Testabdeckung wird anhand theoretischer Modelle für Test- und Inspektionsstrategien wie APM, AOI, AXI, BST, FPT, ICT oder Funktionstest abgeschätzt, wobei die Modelle an die Möglichkeiten der jeweiligen Testsysteme angepasst werden. Sobald die Test-/Inspektionsprogramme fertig gestellt sind, kann TestWay Express das debuggte Testprogramm bzw. den Testbericht einlesen. Unter Verwendung von Industriestandard-Kennzahlen wird dann die abgeschätzte Testabdeckung mit der messtechnisch erreichten verglichen, um so Abweichungen aufzuspüren.
Aster bietet derzeit über 45 Importtools für zahlreiche gängige Test-/Inspektionssysteme an. Zu den unterstützten Systemen gehören diverse Produkte der Hersteller Acculogic, Aeroflex, Agilent, Asset, Checksum, Corelis, CyberOptics, Dr. Eschke, Göpel, JTAG Technologies, Mirtec, Mydata, Omron, Orbotech, Saki, Seica, Spea, Takaya, Teradyne, TRI, VI Technology, Viscom, XJTAG und YesTech.