Startseite > Messen + Testen > Oszilloskope > SiC- und GaN-MOSFETs mit dem Oszilloskop schneller validieren

Advertorial

SiC- und GaN-MOSFETs mit dem Oszilloskop schneller validieren

12. Juni 2023, 13:00 Uhr | Simone Schiller

Die Doppelpulstest-Software auf den MSO-Oszilloskopen der Serien 4, 5 und 6 von Tektronix automatisiert wichtige Validierungsmessungen an GaN- und SiC-Leistungswandlern und lässt sich nahtlos in das Messsystem der Oszilloskope integrieren.

▶ Diesen Artikel anhören

Hauptmerkmale der WBG-DPT-Lösung:

Das neuartige Deskew-Verfahren der WBG-DPT-Lösung macht eine Umverkabelung überflüssig und kann sogar nach Doppelpulsmessungen durchgeführt werden. Um die Auswirkungen von Verzögerungen im Prüfaufbau zu simulieren, erzeugt die Software eine Ausrichtungswellenform. Der Entwickler passt einige Einstellungen an, um die Ausrichtungswellenform mit der gemessenen Wellenform abzugleichen, während die Software alle Unterschiede in den Laufzeiten korrigiert. Mit diesem neuen Verfahren wird die Zeit für den Deskew von einer Stunde oder mehr auf nur 5 bis 10 Minuten reduziert.

Da Leistungswandler in einem breiten Temperaturbereich arbeiten müssen, besteht ein wachsendes Bedürfnis, die Ausgangsladung (QOSS) bei unterschiedlichen Sperrschichttemperaturen zu messen. Die WBG-DPT-Lösung von Tektronix bietet schnelle und genaue QOSS -Messungen, die einen wichtigen Einblick in die Auswirkungen der Ausgangskapazität der Bauelemente ermöglichen.

Mit der WBG-DPT-Lösung von Tektronix können Ingenieure mit Hilfe der branchenweit ersten Sperrverzögerungszeit-Diagramme die Sperrverzögerungs-Details für mehrere Pulse überlagert auf einem einzigen Display anzeigen. Die Messungen werden gemäß den JEDEC- und IEC-Normen durchgeführt, und die Benutzer können die Messungen in der WBG-Lösung so konfigurieren, dass die Ergebnisse für jeden ersten oder zweiten Puls oder für alle Pulse eines Doppelpuls-Sets abgefragt werden. Dieser einzigartige Ansatz der Sperrverzögerungs-Darstellung ermöglicht mehrere Doppelpulssätze und liefert visuelle und Messergebnisse für jeden Satz. Die Messung bietet die Möglichkeit, den Sperrverzögerungsbereich zu vergrößern und sogar die Sperrverzögerungs-Parameter des Systems zu debuggen.

Die Tektronix Wide Bandgap Doppelpulstest-Lösung ist ab sofort für Kunden weltweit verfügbar. Weitere Informationen finden Sie hier.