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Messen & Testen auf der embedded world

18. Februar 2014, 11:22 Uhr | Manne Kreuzer

Vom 25.2. bis 27.2.2014 findet wieder die embedded world 2014 in Nürnberg statt. Einige Highlight gibt es hier schon vorab, mit einer Bilderstrecke zum Thema »Messen & Testen«.

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Messen & Testen

Im Brennpunkt des Messeauftritts von Rohde & Schwarz stehen das Universal-Oszilloskop R&S RTM, das jetzt mit Logikanalyse ausgerüstet ist, sowie Oszilloskope mit neuen Optionen für die Leistungsanalyse. Damit können Anwender nun mit spezialisierten M
© Rohde & Schwarz
Besonders für die Automotive-Tests LV124 und VW 80000 (Micro-Interruptions) eignet sich der elektronische Schalter TOE 9260, den Toellner auf der embedded world zeigt. Bis zu einer Nennspannung von 60 V können Ströme bis zu 50 A geschaltet werden, wo
© Toellner Electronic Instrumente
Unten den Neuprodukten, die Agilent auf der embedded world zeigt, gehören u.a. ein neuer Logikanalysator z.B. für die FPGA-Fehlersuche, eine neue Bitfehlerraten-Testplattform sowie eine ganze Serie neuer Stromversorgungen für Anwendungen z.B. in der
© Agilent Technologies

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