Materialcharakterisierung
Messkit vereinfacht dielektrische Analysen bis 1,1 THz
Ein neues Materialcharakterisierungs-Kit ermöglicht schnelle Messungen im Millimeterwellen- und Terahertz-Bereich.
Das bei Telemeter erhältliche System zielt darauf ab, Messprozesse zu vereinfachen und den zeitlichen Aufwand gegenüber klassischen Freiraum-Messmethoden zu reduzieren. Aufwendige Justagearbeiten und komplexe Versuchsaufbauten sind laut Anbieter nicht erforderlich.
Messung ohne spezielle Probenpräparation
Das Kit erlaubt die Untersuchung unterschiedlicher Probenarten. Feste, weiche, flüssige sowie pulverförmige Materialien lassen sich direkt in das System einsetzen. In vielen Fällen ist keine spezielle Probenpräparation notwendig. Ein selbstausrichtendes Design soll den Aufbau vereinfachen und eine reproduzierbare Positionierung der Probe ermöglichen.
Schnelle Kalibrierung und automatisierter Ablauf
Die Kalibrierung erfolgt über einen vereinfachten Prozess, der mit wenigen Bedienschritten durchgeführt wird. Nach Abschluss der Kalibrierung kann die eigentliche Messung direkt gestartet werden. Ziel ist es, wiederkehrende Messungen zu beschleunigen und den Bedienaufwand zu reduzieren.
Anbindung an Vektor-Netzwerkanalysatoren
Das MCK ist für den Betrieb mit konventionellen Vektor-Netzwerkanalysatoren ausgelegt, sofern diese den erforderlichen Frequenzbereich abdecken und über eine Zeitbereichs-Erweiterung verfügen. Als Beispiel nennt der Anbieter den A2202-DFx von Copper Mountain. Die Steuerung des Messsystems erfolgt über eine browserbasierte Software.
Softwarebasierte Auswertung
Die plattformunabhängige Software steuert den angeschlossenen VNA direkt und übernimmt die Datenerfassung. Spezialisierte Algorithmen berechnen daraus die relevanten dielektrischen Materialparameter. Das System ist in verschiedenen Varianten erhältlich und deckt einen Frequenzbereich von 25 GHz bis 1100 GHz ab.
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