Geringe Belastung durch Spannungsspitzen

Neue 100-V-Leistungs-MOSFET-Technologie

11. November 2016, 0:00 Uhr | Von Jon Gladish und Mike Speed
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Fortsetzung des Artikels von Teil 1

Neue MOSFET-Technologie

Die neueste Generation von Fairchilds 100-V-MOSFET-Technologie fokussiert auf die Optimierung der MOSFET-Charakteristik für Leistungs-Schaltstufen. Sie erreicht eine sehr gute Gütekennzahl (Figure of Merit, FOM) für das Produkt aus Durchlasswiderstand und gesamter Gate-Ladung RDS(ON) x QG(TOT) = 164 mΩ∙nC sowie die nach Fairchilds Angaben führende Recovery-Charakteristik der Body-Diode. Der Recovery-Verlauf der Diode ist über einen weiten Betriebsstrombereich optimiert. Das gilt sowohl für die Recovery-Ladung, als auch die Sanftheit des Recovery-Verhaltens

DMS862 im Vergleich zu einem Wettbewerbsprodukt
Tabelle 1. FDMS862 im Vergleich zu einem Wettbewerbsprodukt.
© Fairchild

Einen Vergleich der neuesten Technologie von Fairchild anhand des Bausteins FDMS86182 mit einer Wettbewerbslösung zeigt Tabelle 1. Die gemessene Recovery-Charakteristik der Diode ist in Bild 3 dargestellt. Die Recovery-Verläufe der Body-Diode demonstrieren den reduzierten QRR-Wert und den optimierten Softness-Faktor S des FDMS86182 gegenüber dem Wettbewerbsprodukt.

Zum Aufzeigen der Vorteile von Fairchilds aktueller 100-V-MOSFET-Technologie wurde der FDMS86182 auf sein thermisches Verhalten und die Leistungsverluste im Vergleich zu einem Wettbewerbsprodukt getestet. Dazu wurde ein Synchron-Abwärtswandler (buck converter) herangezogen. Bild 4 zeigt diese Anordnung.

Testanordnung für synchrone Abwärtswandler
Bild 4. Testanordnung für synchrone Abwärtswandler.
© Fairchild

Der synchrone Abwärtswandler bietet eine einfache und passende Topologie zur Evaluierung von MOSFETs, die als Synchrongleichrichter eingesetzt werden. Der Test war so angelegt, dass der FDMS86182 als High-Side-FET (HS-FET) festgelegt wurde. Als Low-Side-FET (LS-FET) wurde der FDMS86182 gegen das Wettbewerbsprodukt ausgetauscht. Das ergab folgenden Ablauf: Test 1 mit FDMS86182 (HS-FET) und FDMS86182 (LS-FET), Test 2 mit FDMS86182 (HS-FET) und Wettbewerbsprodukt (LS-FET). Die Evaluierung fokussiert auf den Betrieb als Synchrongleichrichter.

Die Test-Bedingungen waren: VIN = 48 V, VOUT = 12 V, Lout = 10 µH, Rg_HS = 0 Ω, Rg_LS = 0 Ω, Fsw = 250 kHz und 500 kHz, TA = 25 °C (natürliche Konvektionskühlung). Als Gate-Treiber kam der UCC27201 zum Einsatz.

Wie bereits erwähnt spielt die Recovery-Charakteristik der Body-Diode eine bedeutende Rolle für das Switch-Node- (SW node) Überschwingen. Dabei generiert eine harte oder “snappige” Recovery-Charakteristik hohe Spannungsspitzen am LS-FET-Drain-Source-Übergang (oder SW node). Eine einfache Methode zur Begrenzung des SW-Überschwingens ist die Abflachung der Einschaltflanke des HS-FET [1]. Das Verlangsamen der LS-FET-Erholung (diF/dt und diR/dt) resultiert in geringerem SW-Überschwingen. Flachere Schaltflanken des MOSFET reduzieren die Belastung durch Spannungsspitzen und Überschwingen, sie führen andererseits aber auch zu höheren Schaltverlusten des MOSFET [1].

Eine einfache Methode zum Herabsetzen der Einschaltgeschwindigkeit des HS-FET ist das Vergrößern des Boot-Widerstands. RBoot lässt sich variieren durch Einstellen des Switch-Node- (SW) Überschwingens auf eine akzeptable Höhe. RBoot wurde so gewählt, dass er das SW-Überschwingen (über Rg_HS) begrenzt. Das Vergrößern von RBoot verlangsamt nur das Einschalten des HS-FET, während es weiterhin das schnelle Abschalten erlaubt.

Leistungsverluste mit synchronem Abwärtswandler
Bild 5. Leistungsverluste mit synchronem Abwärtswandler.
© Fairchild

In diesem Experiment war das Überschwingen der SW-Spitzenspannung auf bis zu 90 V bei 18 A (90 % des 100-V-BVDSS-Pegels) erlaubt. Dazu wurde für RBoot beim Wettbewerbsprodukt 2,5 Ω gewählt, und 0,5 Ω beim FDMS86182. Der FDMS86182 erfordert einen kleineren Boot-Widerstand, da seine Body-Diode mit ihrer wesentlich sanfteren Recovery-Charakteristik dem Wettbewerbsprodukt deutlich überlegen ist. Das bedeutet, die Soft-Recovery-Diode des FDMS86182 erzielt mit ihrem niedrigen QRR einen geringeren Verlust bei höherer Schaltgeschwindigkeit des HS-FET. Die Vorteile des überlegenen Recovery-Verhaltens der Body-Diode zeigen sich in wesentlich geringeren Leistungsverlusten und niedrigeren Arbeitstemperaturen im Vergleich zum Wettbewerbsprodukt. Die Kurven für den Leistungsverlust sind in Bild 5 zu sehen.

Der FDMS86182 erreicht nahezu 2 W an Leistungseinsparung und eine um 17 °C niedrigere Temperatur an der Oberseite des MOSFET-Gehäuses gegenüber dem Wettbewerbsprodukt bei IOUT = 18 A und FSW = 250 kHz. Ähnliche Resultate wurden bei IOUT = 12 A und FSW = 500 kHz gemessen.

 

Literatur

[1] Fairchild AN-4162: Switch Node Ring control in Synchronous Buck Regulators.

 

Die Autoren

 

Jon Gladish
ist Applications Manager bei Fairchild Semiconductor in Mountain Top, Pennsylvania / Sunnyvale, Kalifornien, USA.

 

jon.gladish@fairchildsemi.com


Mike Speed
ist Director of Product Marketing bei Fairchild Semiconductor und ebenfalls in Moutain Top, Pennsylvania / Sunnyvale beschäftigt.

 

mike.speed@fairchildsemi.com



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