Firma

National Instruments Germany GmbH

National Instruments

PXI-SMU mit hoher Kanaldichte

Mit der sechsfachen Kanaldichte im Vergleich zu den Vorgängermodellen wartet die für das Testen von RF-, MEMS- sowie Mixed-Signal- und analogen Halbleiterbauelementen ausgelegte Source Measure Unit (SMU) PXIe-4163 von National Instruments auf.

Design-Praxis

Echtzeitfähiges Multi-GHz-Streaming-System

Unterschiedliche Möglichkeiten zur kontinuierlichen Datenübertragung und -verarbeitung in…

European Microwave Week 2017

DESIGN&ELEKTRONIK Lecture

Die European Microwave Week schafft mit drei Konferenzen und dazu paralleler Ausstellung…

Mobilfunkmesstechnik

5G braucht neue Testverfahren

Nicht nur höhere Frequenzen und Bandbreiten stellen 5G-Entwickler vor neue…

Kommunikationsmesstechnik

So wird das Jahr 2018

IoT, Energie, Automotive, 5G – das sind nur einige der Trends, die der Messtechnik-Branche…

Kommunikationsmesstechnik

Das war das Jahr 2017

Das Jahr 2017 geht zu Ende. Welches Resümee ziehen die…

LabView Actor Framework

Serviceorientierter Funktionstest

Vor allem in modularen Hardwareumgebungen bedeutet die kunden-, prüflings- und…

National Instruments

PXIe-Chassis mit Kühlung pro Steckplatz

National Instruments bringt erstmals ein PXIe-Chassis mit 58 W Leistung und Kühlung für…

Modulare Messtechnik

Mehr Leistung im PXI-Express-Chassis

National Instruments PXIe-1095 liefert statt den üblichen 38 W bis zu 58 W pro…

VIP-Kongress 2017 | National Instruments

Schneller zur Mess- und Automatisierungs-Applikation

Interessante Technik-Trends und Neuheiten gab es auf dem Technologie- und Anwenderkongress…