Produkt

IC-Charakterisierung von -40° bis +200°C

Plug-and-Play-Temperaturkontrollsystem für ICs

ICs müssen in einem großen Temperaturbereich zuverlässig funktionieren. Für die Charakterisierung des Temperaturverhaltens bietet EMC eine neues Testsystem an.

Conbee

LPWAN und BLE als Steckenpferde

Zusätzlich zum Wireless-Value-Added-Distributor m2m Germany GmbH hat dessen Gründer und…

Stromversorgung

Vorbild Informationstechnik

Mehr Rechenleistung, kleinere Systeme. Dr. Ahmad Bahai, Technikchef bei Texas Instruments…

Herausforderung Zuverlässigkeit

Überwachung von ICs

Die Überwachung und Regelung von stark belasteten Bauelementen in ICs stellt eine neue…

Vorbild Natur

Chips die Schmerz empfinden, können sich selbst heilen

Um Transistoren weiter miniaturisieren zu können, sind viele Zuverlässigkeits-Probleme zu…

Neues Joint Venture Sapcorda Services

Hochpräzise GNSS-Positionierungsdienste für den Massenmarkt

Bosch, Geo++, Mitsubishi Electric und u-blox gründen gemeinsam das Joint Venture Sapcorda…

Elektronik-Zeitreise

Automatischer Telefon-Antwortgeber

Sehr wahrscheinlich wissen Sie, was ein Anrufbeantworter ist und wie er funktioniert. Vor…

NXP Semiconductors

Wechsel im Vorstand

Daniel Durn, Chief Financial Officer (CFO) bei NXP Semiconductors, verlässt das…

Funknetzwerk auf Bluetooth-Basis

Bluetooth Mesh

Im Bluetooth-Standard waren bisher nur Punkt-zu-Punkt und Punkt-zu-Mehrpunkt-Verbindungen…

Polarisationsselektive Nanoantenne

Optische Nanoantenne als De-Multiplexer

Forscher der Universität Jena haben erstmals optische Nanoantennen als kompakte…