Produkt

Halbleitertestsysteme

Rehm nutzt Röntgeninspektion von Yxlon

Elektronikbaugruppen auf Herz und Nieren prüfen

Im Fertigungsprozess gehört die Röntgenanalyse von Leiterplatten zu einer wichtigen Methoden, um die Qualität der Lötstelle zu prüfen. Der nächste Schritt ist die Analyse mit 3D-Verfahren wie Laminografie und Computertomografie. Rehm Thermal Systems…

IC-Charakterisierung von -40° bis +200°C

Plug-and-Play-Temperaturkontrollsystem für ICs

ICs müssen in einem großen Temperaturbereich zuverlässig funktionieren. Für die…

Herausforderung Zuverlässigkeit

Überwachung von ICs

Die Überwachung und Regelung von stark belasteten Bauelementen in ICs stellt eine neue…

Vorbild Natur

Chips die Schmerz empfinden, können sich selbst heilen

Um Transistoren weiter miniaturisieren zu können, sind viele Zuverlässigkeits-Probleme zu…

Advantests T5822-System

Schnelle und parallele Speichertests auf Wafer-Ebene

DRAM-, NAND- und andere nicht-flüchtige Speicher-Bauteile lassen sich mit dem neuen…

Panasonic Electric Works Europe AG

Halbleiter-Relais schalten bis zu 6,6 A

Mit der neuen Hochstromserie AQV252G3S und AQV255G3S seiner PhotoMOS-Relais im…

Panasonic Electric Works Europe AG

Neue Halbleiter-Relais schalten bis zu 6,6 A

Mit der neuen Hochstromserie AQV252G3S und AQV255G3S seiner PhotoMOS-Relais im…

Neue PXI-Geräte von National Instruments

Für intelligentere Prüfsysteme

National Instruments hat ein neues PXI-Oszilloskop mit acht Kanälen und 100 MHz…

VarioTAP-Option von Göpel Electronic

Cypress USB-3.0-Controller testen und programmieren

Bisher ließen sich die USB-3.0-Controller von Cypress nicht in Board-Tests integrieren.…

Interview mit An Steegen vom Imec

Wann ist Schluss mit Moore's Law?

Schon seit Jahren wird über das Ende von Moores Gesetz orakelt. Die Elektronik wollte von…