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Verigy: Einstieg in neue Märkte
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
Verigy: Einstieg in neue Märkte
Redundanz-Analyse-Option für den Speichertester V6000 WS
Eine weitere Neuheit gibt es für Verigys Testsystem V6000 WS. Das im November 2008 vorgestellte System ist ein skalierbares und für den Einsatz in der Massenfertigung konzipiertes Wafer-Sort-Testsystem für Flash- und DRAM-Speicher.
Die nun vorgestellte Option »SmartRA« (SMART = Scalable Memory Redundancy Technology) ist eine Speicher-Redundanz-Analyse-Option (RA). Damit können Hersteller bei der Redundanz-Analyse von DRAMs die wachsenden Fail-Storage- und Performance-Anforderungen erfüllen. Und das ist heute wichtiger denn je: Gleichzeitig mit dem kontinuierlichen Anstieg der DRAM-Kapazitäten stehen die Halbleiterhersteller speziell beim Wafer-Sort-Testing ständig wachenden Herausforderungen gegenüber und benötigen für ihre Tests ein höheres Maß an Parallelität, höhere Testfrequenzen und höhere Komplexitäten bezüglich Bausteinredundanz. Daraus ergeben sich bei der Redundanz-Analyse enorme Datenmengen.
Auch ist ein erheblicher Anstieg der Speicher- und Leistungsanforderungen zu verzeichnen, die erfüllt werden müssen, um Fehlerdaten speichern und Redundanz-Analysen effizient durchführen zu können. SmartRA adressiert genau diese Ansprüche. Dank leistungsfähiger Blade Server können Hersteller bei ihren Redundanz-Analysen die Verarbeitungsleistung je nach Bedarf und ohne Auswirkungen auf die Grundfläche des Testsystems erhöhen. Und weil SmartRA auf einer offenen Software-Architektur basiert, können Kunden wahlweise von Verigy bereitgestellte Algorithmen oder Algorithmen aus eigener Entwicklung nutzen.
»Yield Learning Solution« maximiert Fertigungsausbeute
Die dritte Neuheit von Verigy trägt den Namen »Yield Learning Solution«. Sie ermöglicht die Echtzeit-Datenerfassung sowie die statistische Analyse elektrischer Fehler komplexer SoCs. Die Yield Learning Solution kombiniert die Analyse-Komponenten basierend auf der V93000-SoC-Test-Plattform mit einem design-orientierten Analyse- und Visualisierungstoolset. Dies ermöglicht Herstellern eine effiziente Sichtung und Selektierung großer Mengen elektrischer Fehler in spezifische Logikfehler. Dank der reibungslosen Verknüpfung von elektrischem Test und physikalischen Layout-Daten lassen sich die Ursachen für physikalische Fehler schnell lokalisieren. Damit können Anwender sichtbare und nicht sichtbare Mechanismen, die ihre Ausbeute verringern, wesentlich effizienter aufspüren: Nach Herstellerangaben lässt sich dadurch die Zeit bis zur Überführung in die Produktion (Time-to-Production) um über vier Wochen verkürzen und die Fertigungsausbeute um bis zu sechs Prozent steigern.
Die »Yield Learning Solution« speist die Tester-Informationen sowohl in das Design als auch in die Fertigung zurück und liefert somit Logik-Bitmaps für »Stuck-at«- und schwer aufzuspürende Timing-Fehler in Scan-Ketten und Logik. Dabei gelingt ihr der Spagat zwischen hoher Genauigkeit, die für das Labor erforderlich ist, und hohem Durchsatz für die Produktion.
Die Yield Learning Solution besteht aus dem V93000 sowie den »Triage Fault Locator«- und »YieldVision«-Software-Toolsets. Die proprietären Algorithmen der »Triage-Fault-Locator«-Software ermöglichen nach Überzeugung der Experten von Verigy eine noch nie da gewesene Datenverarbeitungseffizienz. Darüber hinaus reduzieren die »YieldVision«-Analyse- und Visualisierungstools die zur Diagnose erforderliche Zeit, indem sie die Ursachen der physikalischen Defekte lokalisieren.
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