»Advanced Testing Innovation Award«
SEMI-Auszeichnung für Verigy
Verigy hat den »Advanced Testing Innovation Award« der SEMI (Semiconductor Equipment and Materials International) erhalten. Damit zeichnet der Industrieverband den IC-Tester-Hersteller für seine Beiträge zur Verbesserung der Funktionalität und Effizienz beim Testen von Halbleitern aus.
Zu Verigys Produktportfolio gehören unter anderem auf ASICs basierende Tester-per-Pin- und Tester-per-Site-Architekturen, die das unabhängige Testen aller Bausteinpins für parallele und effiziente Tests erlauben. Darüber hinaus vereinfacht Verigys proprietäre Tester-on-Board-Architektur die Tester-Hardware sowie deren Konfiguration und den System-Support.
Die nächste Generation von Testanforderungen adressiert Verigy mit Systemen zum Direct-Probing von HF-Kommunikationsbausteinen und 3D-IC-Tests. Die im Juni dieses Jahres vorgestellte Direct-Probe-Plattform V93000 reduziert die Länge und Anzahl der Signalpfadübergänge zwischen Tester und Probe Card und sorgt dafür, dass Wireless, Wafer-Level Chip Scale Packages, MPUs und GPUs auf Wafer-Probe-Ebene von der gesamten Testperformance profitieren. Ferner entwickelt Verigy seit 2007 3D-IC-Testtechnologien. Das Unternehmen ist Mitglied der 3D IC Special Interest Group, in der sich SIPO, ITRI, TSIA und SEMI Taiwan gemeinsam engagieren.
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