Für Charakterisierung und Fehlersuche
Elektrischer Test für PCIe 6.0
Mit der vollautomatischen Testsoftware QPHY-PCIE6-TX-RX sowie den Softwarepaketen SDAIII-PCIE6 und SDAIII-PAMx unterstützen die Oszilloskope LabMaster-10-Zi-A von Teledyne LeCroy nun auch den elektrischen Test und die Validierung von PCI Express 6.0.
Das Marktpotential für die Kommunikationsmesstechniker im Bereich der kommenden PCIe-Standards ist groß. So wird beispielsweise die nächste Generation von PCI Express, PCIe 6.0, Multi-Level-Signalisierung (PAM4) verwenden, um die Datenübertragungsgeschwindigkeit gegenüber den 32 GT/s von PCIe 5.0 zu verdoppeln. Das trägt zwar dazu bei, den Bedarf an schnellem Datenzugriff zu befriedigen, doch der neue Multi-Level-Signalisierungsansatz wird auch höhere Testkomplexitäten für Systementwickler schaffen.
Hier setzt Teledyne LeCroy mit seinen neuen Softwaretools an. Die vollautomatische Testsoftware QPHY-PCIE6-TX-RX sowie die SDAIII-PCIE6- und
SDAIII-PAMx-Pakete, die zusammen mit einem Oszilloskop der LabMaster-10-Zi-A-Serie und der SDAIII-CompleteLinQ-Software zur Analyse serieller Daten verwendet werden, sollen PCIe-Entwicklern genau die Werkzeuge bieten, die sie zum Testen und Debuggen komplexer PCIe-6.0-Geräte benötigen.
Einige der interessantesten Features sind:
• Berechnung und Anzeige des Jitters in drei Übergangsgruppierungen
• Messung der Einstellungen für die Senderentzerrung (Tx EQ) mit Ergebnissen und Methoden, die mit den aktuellen SigTest-AC-Fit-Methoden übereinstimmen
• Anpassbare Setups für die Messung voreingestellter Cursoren und Wellenformen unter Verwendung neuer Tools für die Senderentzerrung
• Messung des Signal-Verzerrungs-Verhältnisses (SNDR) mit Oszilloskop-Rauschkompensation und unterschiedlichen Signalanalyse-Wellenform-Ansichten.
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