Da auf dem DDR-Bus sowohl Schreib- (Write) als auch Lese- (Read) Zyklen vorhanden sind, benötigt das DSO zusätzliche Tools, um diese zu unterscheiden und die Messungen den richtigen Zyklen zuordnen zu können. Um Read und Write zu unterscheiden gibt es zwei Möglichkeiten. Die beste, aber aufwändigere Methode ist es, den Command Bus zwischen Speichercontroller und Memory mit zu messen und auszuwerten. Da aber für die Auswertung der Command-Bus-Befehle mindestens fünf Kanäle benötigt werden, ist dies nur möglich, wenn das DSO über zusätzliche schnelle digitale Eingänge verfügt, wie zum Beispiel die HDA125 Mixed Signal Option von Teledyne LeCroy (Bild 2).
Die einfachere Lösung ist die Auswertung der Phasenlage zwischen Data-Strobe (DQS) und Daten. Bei Read-Zyklen sind diese beiden Signale in Phase, bei Write-Zyklen um 180° phasenversetzt. Das heißt, der Übergang der Daten erfolgt hier in der Mitte zwischen zwei DQS-Flanken. Diese Methode hat aber technische Grenzen. Speziell bei Low-Power-Lösungen, bei denen die Empfängerbausteine ohne Terminierung arbeiten, führen Signalreflexionen oft zu Fehlinterpretationen bei der Read/Write-Erkennung.
Für die Auswertung der Messungen nach JEDEC-Standard eignen sich besonders Compliance-Testlösungen. Diese leiten den Nutzer automatisch durch die notwendigen Arbeitsschritte, vor allem aber sind die JEDEC-spezifischen Messverfahren implementiert und das ermöglicht die automatisierte Messung aller relevanten Parameter (das sind bei einer vollständigen Qualifizierung einige hundert Werte). Neben diesen Compliance-Testlösungen bietet Teledyne LeCroy auch eine Debug-Lösung (Bild 3) an, die gerade während der Entwicklung einer DDR-Schnittstelle deutliche Vorteile gegenüber einer reinen Compliance-Testlösung hat. Während die Compliance-Lösungen dafür optimiert sind, alle Messungen vollautomatisch an einer exemplarischen Erfassung durchzuführen, bietet die Debug-Software Tools wie zum Beispiel Augendiagramme, Jitter-Messungen sowie statistische Betrachtungen der Messparameter an. Zusätzlich können hier auch bis zu fünf Messszenarien (zum Beispiel Vergleich Read zu Write oder zwei Messungen an unterschiedlichen Messpunkten) sehr einfach miteinander verglichen werden.