Zu den Problemen der Höchstfrequenz-Messtechnik äußert sich Jay Alexander, Vice President und General Manager der »Digital Test Division« von Agilent Technologies: »Man ist, um die High-speed-Systeme schneller zu machen, immer mehr zu seriellen Bussen übergegangen. Der mittlerweile notwendige Datendurchsatz erfordert es aber, diese schnellen Seriell-Busse sogar noch zueinander parallel zu schalten. Das stellt an die Messtechnik zweifellos besonders hohe Anforderungen, weil hier eine High-speed-Synchronisierung erforderlich ist, um Zeitkorrelationen analysieren zu können. Hinzu kommt, dass die Messtechnik erstens mit immer kleineren Signalpegeln auskommen muss, dazu auch noch mit verschiedenen und ebenfalls immer kleiner werdenden Spannungspegel-Unterschieden. Auch hier tritt besagter Effekt auf, dass aus einfachen Rechtecken sehr kompliziert zu untersuchende Analog-Kurvenformen mit sehr kleinen Amplituden werden.«
Den HF-Fachleuten zufolge ist etwa bei 10 Gbit/s die elektrische Übertragung auch auf den Leiterplatten an ihrer Grenze angelangt, so dass man mehr und mehr zu optischen Bussystemen übergehen wird. Optische Übertragungen zwischen Chips und auch zwischen Boards und anderen Systemkomponenten werden also in Zukunft immer häufiger zu finden sein. Diese Entwicklung wird zusätzlich gefördert durch Technologie-Fortschritte, die es erlauben, kleinste Laser auf Chips zu integrieren.