Yxlon / Zerstörungsfreie Materialprüfung

CT mit höchster Detailerkennung

8. März 2016, 10:37 Uhr | Nicole Wörner

Mit dem neuen Release der Computertomografiesysteme FF20 CT und FF35 CT erreicht Yxlon eine Detailerkennbarkeit von 150 nm in 2D-Anwendungen, und das erstmals auch bei hohen Energien.

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Links: Das Rasterelektronenmikroskop-Bild zeigt die exakten Abmessungen im Prüfkörper. Rechts: Der 150-nm-Spalt wird im  Röntgenbild klar sichtbar.
Links: Das Rasterelektronenmikroskop-Bild zeigt die exakten Abmessungen im Prüfkörper. Rechts: Der 150-nm-Spalt wird im Röntgenbild klar sichtbar.
© YXLON International

Erreicht wird das durch einen extrem kleinen Brennfleck der von Yxlon in Hamburg neu entwickelten wassergekühlten 190-kV-Nanofokusröhre. Darüber hinaus bieten neue CT-Algorithmen eine optimale Bildauflösung bei größerem Messkreis.
Das neue ScanExtend-Feature bietet eine horizontale Messkreiserweiterung, es eignet sich daher besonders für größere Prüfteile und ermöglicht es zudem, kleinere Prüfteile noch größer zu vergrößern. Dabei wird der Scan in einer vollständigen Rotation des Prüfteils durchgeführt und artefaktfrei rekonstruiert. Das spart Zeit im Vergleich zu gängigen Algorithmen, die das so genannte Stitching ein­setzen.

Ferner erhöhen Neuerungen wie die virtuelle Rotationsachse und das HeliExtend-Feature (Helix-CT) die Applikationsbreite, die Qualität der Prüfungen und die Zeiteffizienz für den Anwender, was besonders bei kleinen, vertikal ausgedehnten Teilen wie 3D-gedruckten Düsen zum Tragen kommt.

Mit den FF20/35-CT-Systemen und der Systemplattform Geminy beschreitet Yxlon noch weitere neue Wege: Intuitive Smart-Touch-Bedienung, Remote Monitoring, Push Messages und unterschiedliche Nutzerprofile ermöglichen die Bedienung der Systeme ohne spezielle Vorkenntnisse.

Der große Prüfraum in Verbindung mit den Röhren- und Detektorkonfektionierungen sorgen für eine große Anwendungsbandbreite und hohe Flexibilität.


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