Schnellere OPC und OPV für 45-nm- und 32-nm-Designs
Das kalifornische EDA-Start-Up Gauda stellt eine Technologie vor, die die Zeiten für die Optical Proximity Correction (OPC) und die Optimal Proximity Verifikation (OPV) bis um das 200-fache im Vergleich zu bisherigen Lösungen reduziert.