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Neue Machine-Vision-Technik auf KI-Basis

Optisch inspizieren ohne vorhandene Schlecht-Muster

Für die Software seiner Bildverarbeitungssysteme der Serie FH hat Omron KI-Tools vorgestellt, die dem Unternehmen zufolge erstmals optische Inspektionen ohne vorhandene Schlecht-Muster ermöglichen.

OMRON G3VM-21MT

MOSFET Solid-State-Relay mit geringem Leckstrom

OMRON bewirbt das MOSFET Relais G3VM-21MT mit einem extrem niedrigen Leckstrom von nur…

Omron

»Zero-Defect-Konzept« für mehr Sicherheit

Die Experten von Omron haben eine Vision: Mit Hilfe eines durchgängigen und aufeinander…

Omron / ATEcare

Neue 3D-SPI-Generation

Mit einigen bisher noch nicht gesehenen Features wartet die neue Generation der…

Omron Electronic Components

Relais im Smart Home

Auf dem Vormarsch ist die Relais-Technik insbesondere im Smart Home, weil sich mit den…

TTI / Omron

Berührungsfreie Temperatursensoren

Präziser, kleiner, einfacher – so charakterisiert der Sensorexperte Omron seine neuen…

Bilderstrecke

Relais-Neuheiten

Aktuelle Neuheiten aus dem Bereich Relais zeigt Ihnen unsere Bilderstrecke.

Industrie 4.0 und KI als ein System

Hannover glänzt mit »German Engineering«

Auch die siebte Hannover-Messe mit dem Leitthema »Integrated Industry« war eine…

KI-Controller von Omron

Steuerungsmodul mit Predictive Maintenance

Das KI-Steuerungmodul von Omron erfasst, analysiert und nutzt Daten von Edge-Geräten, um…

Omron Electronics

Cobots und FTS als Team

Produktlebenszyklen werden immer kürzer und die Produkte immer individueller. Hersteller…