Firma

National Instruments Germany GmbH

»Die Ära der Box- und Tester-Racks in…

Oszilloskope: Boxen-Format oder PXI-basiert?

In den vergangenen Monaten haben nahezu alle großen Oszilloskop-Hersteller neue Produkte vorgestellt. Entsprechend ist derzeit im Bereich der »Boxen« - also der Stand-alone-Geräte - reichlich Bewegung. Doch wie sieht es in Sachen PXI-Oszilloskope…

Universelle Modular-I/O-Plattform

Noch flexibler messen, regeln und automatisieren

Die bereits im Markt eingeführte Kompakt-I/O-Modul-Plattform CompactRIO wurde um neue…

Kongress und Messe in Frankfurt

National Instruments veranstaltet Energy-Technologietag

Am 30. Juni 2011 veranstaltet National Instruments zum ersten Mal einen Technologietag zum…

Hochfrequenz- und Mikrowellen-Technik

National Instruments kauft AWR

Der vor allem durch seine Hard- und Software-Produktlinien für die rechnergestützte Mess-…

Systembus-Messtechnik

5 GHz: Bandbreiten-Rekordmarke für PXI-Digitizer

Die seit längerem schon bestehende Kooperation zwischen National Instruments und Tektronix…

Interview

Das Ende der Box- und Tester-Racks

Flexibel kombinierbare Mess-, Regel-, Automatisierungs-, I/O-, Computer- und…

National Instruments

Dynamische Signale erfassen

Für die Erfassung dynamischer Signale mit hoher Kanalanzahl ausgelegt sind die Module der…

National Instruments

Vektorsignalanalyse bis 3,6 GHz im PXI-Format

National Instruments hat einen neuen PXI-RF-Vektorsignalanalysator für die Untersuchung…

Dehnungsmesstechnik

Grundlagen der optischen Sensormessung mit Faser-Bragg-Gittern

Die optische Sensormessung mit Faser-Bragg-Gittern (FBG) verwendet Licht anstelle von…

PXI-Vektorsignalanalysator

Bis 3,6 GHz mit beachtlicher Präzision

Ein neuer Vektorsignalanalysator im PXIe-Format macht vor allem durch seine sehr guten…