Fraunhofer INT
Einschläge kosmischer Teilchen schädigen Elektronikbauteile
Bislang konnten Schäden durch kosmische Teilchen an elektronischen Bauteilen nicht realistisch getestet werden, was für Anwendungen von Luft- und Raumfahrtanwendungen gefährlich war. Neue Testmethoden mit Pikosekundenlasern am Fraunhofer INT zeigen…