ams setzt auf Through-Silicon-Vias für Stacked Dies
Mit eigener Fertigung in die dritte Dimension
Fortsetzung des Artikels von Teil 1
Die Vorteile der 3D-Technik: CT-Scans mit bisher unerreichter Auflösung
Welche Performance-Steigerungen die TSV-Technik ermöglicht, zeigt ein ASIC, das ams in Zusammenarbeit mit Siemens für Fotodetektormodule von CT-Systemen entwickelt hat (www.ams.com/ger/Press/Release-Archive-2012/ASIC_Siemens). Das ASIC besteht aus einem Fotodioden-Array und einem A/D-Wandler, die als Stacked Dies in einem einzigen Gehäuse untergebracht sind. Im Vergleich zur vorausgegangenen Generation ersetzen die TSVs die langen Verbindung vom Sensor zum A/D-Wandler auf Boardebene. Das führt zu einem um 20 Prozent niedrigeren Rauschen bei CT-Scans mit niedriger Dosis im Vergleich zu konventionellen Detektoren. Eine Bildauflösung bis hinunter zu 0,5 mm ist möglich, was gegenüber herkömmlichen Detektoren eine Verbesserung von 0,3 mm darstellt. Der große Dynamikbereich erweitert die Einsatzmöglichkeiten von CT-Scans mit niedriger Dosis. Und schließlich reduziert sich die typische Leistungsaufnahme von 1000 W auf 300 W. Die daraus resultierende Reduktion der Verlustwärme führt zu einer weiteren Verbesserung der Signalqualität und der Bildauflösung. ams liefert das Dioden-Array-A/D-Wandler-ASIC seit Ende 2012 aus, es findet in den »Stellar«-CT-Systemen von Siemens Einsatz. (ha)
Welche Performance-Steigerungen die TSV-Technik ermöglicht, zeigt ein ASIC, das ams in Zusammenarbeit mit Siemens für Fotodetektormodule von CT-Systemen entwickelt hat (www.ams.com/ger/Press/Release-Archive-2012/ASIC_Siemens). Das ASIC besteht aus einem Fotodioden-Array und einem A/D-Wandler, die als Stacked Dies in einem einzigen Gehäuse untergebracht sind. Im Vergleich zur vorausgegangenen Generation ersetzen die TSVs die langen Verbindung vom Sensor zum A/D-Wandler auf Boardebene. Das führt zu einem um 20 Prozent niedrigeren Rauschen bei CT-Scans mit niedriger Dosis im Vergleich zu konventionellen Detektoren. Eine Bildauflösung bis hinunter zu 0,5 mm ist möglich, was gegenüber herkömmlichen Detektoren eine Verbesserung von 0,3 mm darstellt. Der große Dynamikbereich erweitert die Einsatzmöglichkeiten von CT-Scans mit niedriger Dosis. Und schließlich reduziert sich die typische Leistungsaufnahme von 1000 W auf 300 W. Die daraus resultierende Reduktion der Verlustwärme führt zu einer weiteren Verbesserung der Signalqualität und der Bildauflösung. ams liefert das Dioden-Array-A/D-Wandler-ASIC seit Ende 2012 aus, es findet in den »Stellar«-CT-Systemen von Siemens Einsatz. (ha)
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