Elektronik

Siemens EDA

Paketbasierter Test reduziert Aufwand bei DFT

Das Tessent Streaming Scan Network (SSN) von Siemens EDA entkoppelt DFT-Anforderungen auf Kern- und Chipebene, ermöglicht per IJTAG parallele Tests und optimiert die Bandbreitennutzung. So sinken Designkomplexität, Fülldatenmenge und Testkosten…

Continuous Observability in CRA-Zeiten

Kontinuierliches Monitoring wird entscheidend

Der CRA setzt klare Vorgaben für die Embedded-System-Security: Hersteller müssen ihre…

Einfache Installation, hohe Effizienz

Linearer Zeilensensor mit spezieller Pixelgeometrie

Für die Anforderungen industrieller Anwendungen ausgelegt ist der optische lineare…

Industrielle Cybersecurity neu gedacht

Vernetzte Systeme vor Cyberbedrohungen schützen

Cyberattacken auf die Industrie werden immer häufiger und erfolgen zunehmend…

HMIs und M2M in der vernetzten Welt

SoMs als Grundlage für HMIs und Gateways

System-on-Modules (SoMs) bieten sich als Computing-Basis für industrietaugliche…

Eine Sache von Perspektive und Details

Flaschenhälse bei der Systementwicklung vermeiden

In der Embedded-Welt sind Entwickler oft mit Flaschenhälsen konfrontiert, sprich: mit…

Jetzt Vortragsvorschlag einreichen

embedded world Conference 2026: Call for Papers gestartet

Unter dem Motto »Connecting the Embedded Community« ruft das Programmkomitee der weltweit…

Toshiba Electronics Europe

Zweikanal-Hochgeschwindigkeits-Digitalisolatoren

Toshiba Electronics Europe erweitert sein Angebot an Isolatoren um vier nach Standard…

STMicroelectronics

Strahlungsfeste PoL-Wandler für LEO-Anwendungen

Der für Anwendungen in niedrigen Erdumlaufbahnen (Low Earth Orbit, LEO) konzipierte…

Für industrielle Stromversorgungen

Kompakter LED-Treiber mit nur zwei Bauteilen

Eine stabile Stromversorgung ist das Rückgrat industrieller Steuerungssysteme – ihr…