Automotive-Qualität über AEC-Q100/101 hinaus sicherstellen

Paradigmenwechsel bei der Bauteil-Qualifizierung

30. Juni 2009, 10:21 Uhr | Dr. Hans-Peter Hönes
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Fortsetzung des Artikels von Teil 4

Paradigmenwechsel bei der Bauteil-Qualifizierung

Im Wesentlichen unterscheidet sich die Built-In Reliability-Prozedur von den standardmäßigen Verfahren in den folgenden Punkten:

  • Betrachtung aller potentieller Zuverlässigkeitsausfallmechanismen statt der Erfüllung eines reinen Konformitätstests.
  • Der FMDRC-Regelkreis ist in den gesamten Entwicklungszyklus eingebunden und gewährleistet kürzere Reaktionszeiten. Damit können die notwendigen Lern- und Optimierungszyklen im Entwicklungsprozess erfolgen, bevor das Endprodukt ausgeliefert wird.
  • Durchführung eines Ausreißer-Tests, um Bauteile außerhalb der normalen Verteilung auszusondern, auch wenn sich diese noch innerhalb der Spezifikation bewegen.

Aktivitäten wie die Robustness-Validation-Initiative von ZVEI und SAE einschließlich der Veröffentlichung von SAEJ1879REV. OCT2007 werden dabei helfen, den Paradigmenwechsel in der Kraftfahrzeugindustrie voranzutreiben. Das Endziel ist das gleiche wie bei BIR-FMDRC: die Nutzung eines Einsatzprofils und die Untersuchung der wahren Eigenschaften mit einer Test-to-Failure-Methodik, um eine Spezifikation mit annehmbarer Robustheitsreserve zu definieren. Um den BIR-Ansatz erfolgreich zu implementieren, ist mehr Transparenz im Prozess der Fahrzeugentwicklung notwendig. Es ist ein Informationsaustausch zwischen allen Ebenen der Versorgungskette notwendig, um die Spezifikation entsprechend des geplanten Einsatzprofils und mit hinreichender Robustheitsreserve definieren zu können. Dies bedeutet, dass über den gesamten Entwicklungszyklus alle anwendbaren Umwelt- und Lastbedingungen von der Fahrzeug-über die Systemebene bis hinunter zur Ebene der Halbleiter-Bauelemente definiert werden müssen. Nur mit Hilfe dieser gemeinsamen Aktivität lassen sich die widersprüchlichen Anforderungen höhere Komplexität und höhere Zuverlässigkeit bei einer gleichzeitigen Reduzierung der Kosten erfüllen. sj

Autor:

Dr.-Ing. Hans-Peter Hönes
wurde 1961 in Reutlingen geboren. Er studierte Elektrotechnik an der Universität Stuttgart und promovierte zu dem Thema „Analyse von elektrochemischen Energiespeichern in photovoltaischen Inselsystemen mittels Sensoren und systemtechnischer Methoden“. Seit 2001 arbeitet er für die Firma Fairchild und ist dort seit Anfang 2008 als Senior Manager Product Line Applications Automotive mit weltweiter Verantwortung tätig.

hans-peter.hoenes@fairchildsemi.com


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  4. Paradigmenwechsel bei der Bauteil-Qualifizierung
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