Testsysteme

Testlösungen für Smart Devices

Große Herausforderungen

Smart Devices, hochintegrierte Chips aus Sensor, Prozessor und Kommunikationsschnittstelle sind für automatische Testsysteme schwer zu bewältigen, auch da trotz großem Funktionsumfang immer weniger Bauteilpins zur Verfügung stehen. Wie kann ein…

National Instruments

»Auf das offene Plattformkonzept kommt es an«

National Instruments stellt die zweite Generation seiner PXIe-basierten…

Die Vorteile offener Ökosysteme

Erfolgreich durch Zusammenarbeit

Im neuen Zeitalter des Collaborative Engineering sind die Tage geschlossener Plattformen…

Digitaltest

Kostenloses Leiterplattentest-Seminar

Digitaltest veranstaltet vom 10. Bis 13. Oktober 2016 Seminare rund um das Thema…

Keysight E7760A

Ein Testsystem für 802.11ad

Auf dem Mobile World Congress in Barcelona hatte Keysight zum ersten Mal sein Testsystem…

Zurück zu den Grundlagen

Entmystifizierung von Glasfaser-Testmethoden

Die Fülle an Testmethoden für Glasfasern, insbesondere für Sonderfälle, ist oft…

Inspektionskamera Fluke Networks FI-500

9 von 10 Zahnärzten empfehlen diese Kamera

Die neue FI-500 FiberInspector Inspektionskamera von Fluke Networks mit…

Noch mehr Sicherheit für CSM-Messgeräte

Hochvolt-Isolationstestplatz

CSM produziert Messmodule mit hohen Sicherheitsstandards unter anderem für den…

Anritsu auf der ECOC 2016

PAM4 BER-Testlösung mit 64 Gbaud

Vom 19. bis 21. September findet in Düsseldorf die ECOC 2016 statt. Anritsu präsentiert…

PXI-Chassis von Pickering Interfaces

Für mobile oder platzkritische Tests

Das neue modulare Chassis 60-104 von Pickering Interfaces zeichnet sich durch seinen…