Startseite > Messen + Testen > Testsysteme > MDA kombiniert ICT, FKT und Boundary Scan

PXI-Messtechnik

MDA kombiniert ICT, FKT und Boundary Scan

5. Juli 2013, 15:30 Uhr | Nicole Wörner

▶ Diesen Artikel anhören

Fortsetzung des Artikels von Teil 1

Schaltmatrizen, Paralleltest, Software und der ABEX-Standard

Vielfältige Schaltmatrizen

»Ein ganz wichtiger Aspekt bei einem ICT/MDA-Testsystem ist das Thema Switching«, unterstreicht Vogel. »Hier benötigt man sehr schnell ansprechende Relais-Matrizen, um beispielsweise beim Kurzschlusstest - bei dem sehr viele Schaltverbindungen pro zu testendem Bauteil nötig sind - kurze Gesamttestzeiten zu erreichen.«

Im Zuge der Neuentwicklung hat Konrad zwei neue, auf Geschwindigkeit optimierte Geräte entwickelt. Die KT-PXI-502 ist eine Single-Slot-100x4-Matrix im PXI-Format, die im Anschlussblock die Erweiterungsrelais für eine Gesamttopologie von 128x4 beinhaltet. Mit dieser Matrix lassen sich in einem 18-Slot-Standard-PXI-Chassis insgesamt 2048 Testpunkte mit dem ICT-Modul abdecken. Für die Integration in ABex-Systeme wurde der Matrix-Terminalblock KT-TM-404 entwickelt, der als Frontend direkt vor dem LEON-Kernmodul eingesetzt wird und 86x4 Verbindungspunkte bietet. Hochkomplexe Baugruppen mit hohem Pincount lassen sich durch eine Kombination der PXI-Messeinheit mit einer oder mehreren ABex-Switching-Matrizen KT-AM-301 realisieren. Dabei handelt es sich um eine Single-Slot-Karte mit 172x4 Kreuzungspunkten. In dieser Konfiguration deckt ein System bis zu 2838 Testpunkte ab.

Basierend auf diesen drei Switching-Modulen bietet Konrad verschiedene Testsystemvarianten an. »Speziell bei der Produktion kleinerer und mittlerer Baugruppen sind die Testbudgets meist sehr limitiert«, so der Experte. »Daher suchen die Kunden kostengünstige Testsysteme, ohne jedoch Abstriche beim Funktionsumfang hinnehmen zu wollen. Hierfür bieten wir das ‚LEON Fixture‘ an, bei dem der Tester integraler Bestandteil des manuellen Pultadapters ist. Dazu wird ein flaches ABex-Chassis mit vier Slots direkt in den Testadapter eingebaut und über Ethernet oder USB mit dem externen Testrechner verbunden. Ein solches System kann Baugruppen mit bis zu 602 Testpunkten prüfen.« Weitere Systemvarianten gibt es auf reiner PXI- oder als System auf ABex-Basis mit 8 oder 18 Slots - entweder integriert in 19“-Schaltschränke mit Wechselsatzschnittstelle oder als kompletter Steh- oder Sitzarbeitsplatz im klassischen Boardtester-Gehäuse.

Für die Massenfertigung konzipiert ist ein System auf Basis des 18-Slot-ABex-Chassis mit einer In-line-Konfiguration und vollautomatischem Board-Handling. Der Tester wird über eine Virginia-Panel-Schnittstelle direkt mit den Wechselsätzen in der In-line-Testzelle verbunden. Hier spielt die ABex-Technologie ihre Vorteile voll aus, weil es sich dabei um ein wartungsfreundliches, vollständig kabelloses Testsystem handelt.

Paralleltest

Unter anderem im Automotive-Umfeld werden häufig Baugruppen mit geringer bis mittlerer Komplexität hergestellt, jedoch bei hohen Stückzahlen. Durch die Nutzung mehrerer Messmodul/Matrix-Einheiten parallel in einem System ergeben sich hochperformante Applikationen für den Test von mehreren gleichen oder unterschiedlichen Leiterplatten bzw. Nutzen. Unterstützt werden solche Applikationen durch die CPU auf dem LEON-Modul. »Dem Testingenieur stehen C-Funktionen zur Verfügung, mit denen Testprogramme direkt auf die Hardware heruntergeladen werden können, die dort autark und asynchron vom PC ausgeführt werden«, führt Vogel aus. »Die C-Funktionen umfassen alle auf der Karte verfügbaren Messfunktionen und erlauben maximale Flexibilität in der Performance-Steuerung der Testapplikation. Mit dieser Architektur lassen sich bis zu 16 parallele und unabhängige Tester in einem System betreiben – was wiederum für einen hohen Testdurchsatz sorgt.«

Software

Die von Konrad Technologies für das LEON-System entwickelte Software umfasst Testschrittbibliotheken für National Instruments TestStand sowie Instrumententreiber für die Einbindung der Funktionstestmodule des LEON-Systems wie Voltmeter, A/D- und D/A-Wandler, Switching, usw. in eigene Testumgebungen. Die automatische Programmgenerierung aus den CAD-Daten wird über das Design-for-Testability-Tool CAMCAD realisiert, womit der Anwender eine durchgängige Lösung mit Stücklistenintegration, Analyse der Testabdeckung, Bohrplanerstellung bis hin zum fertigen Testprogramm erhält.

ABex – Analog Bus Extension for PXI - Offener Standard erleichtert die Signalverschaltung

ABex ist ein von Konrad Technologies entwickelter offener Standard, bei dem zu einem handelsüblichen PXI-Chassis eine weitere Analog-Backplane hinzugefügt wird. Im Testsystem integrierte PXI-Module werden über dedizierte ABex-Terminalmodule mit der Backplane verbunden, was die Signalverschaltung der Instrumente untereinander vereinfacht. So lassen sich weitestgehend kabellose Testsysteme realisieren. Weitere Vorteile liegen in der verbesserten Signalintegrität durch definierte und geschirmte Signalwege sowie in den kurzen Systemerstellungszeiten. Spätere Anforderungsänderungen lassen sich durch Anpassen der Systemsoftware leicht durchführen. Details zum Standard sowie verfügbare Module von Konrad und weiteren Firmen finden sich auf www.abexstandard.org.