Nächster Meilenstein erreicht
Siglent bringt Achtkanal-Oszilloskope auf den Markt
Für die Messanforderungen in der Leistungselektronik und in embedded Systemen ausgelegt sind die neuen Oszilloskope der Serien SDS5000X HD und SDS5000L von Siglent. Sie kombinieren hohe Kanalanzahl, große Speichertiefe und praxisgerechte Analysefunktionen für komplexe Signalverläufe.
Mit den beiden neuen Modellreihen adressiert Siglent unterschiedliche Einsatzbereiche: Die Serie SDS5000X HD richtet sich an den Einsatz im Labor. Sie bietet bis zu acht analoge Eingänge, Bandbreiten bis 1 GHz, Abtastraten von bis zu 5 GS/s sowie ein großes Touchdisplay zur interaktiven Bedienung.
Die Modelle der Serie SDS5000L hingegen sind für den Einsatz im automatisierten Testsystem vorgesehen. Sie sind ohne Display ausgeführt, vollständig fernsteuerbar und für den Rack-Einbau optimiert.
Beide Geräteserien nutzen dieselbe Plattform und ermöglichen so konsistente Messergebnisse in unterschiedlichen Einsatzszenarien – vom Laboraufbau bis zur Validierung im Prüffeld.
Speichertiefe, Auflösung und Signalqualität
Ein zentraler Aspekt beider Serien ist die Speichertiefe: Pro Kanal stehen bei voller Kanalanzahl bis zu 500 Millionen Messpunkte zur Verfügung. Im Betrieb mit reduzierter Kanalanzahl kann die Tiefe auf bis zu 2,5 Milliarden Punkte pro Kanal erweitert werden. Das ermöglicht lückenlose Signalaufzeichnungen über lange Zeiträume hinweg.
Die effektive Auflösung beträgt bis zu 8,2 Bit bei voller Bandbreite. In Kombination mit einem niedrigen Rauschpegel (140 µVrms bei 1 GHz) liefert das Gerät eine differenzierte Darstellung auch bei kleinen Signalanteilen – relevant etwa bei analogen Regelungen oder Störanalysen.
Anwendungen mit hoher Kanalanzahl
Die gleichzeitige Erfassung von acht Kanälen eröffnet neue Möglichkeiten, etwa bei der Analyse von dreiphasigen Stromversorgungen. Spannungs- und Stromverläufe aller Phasen lassen sich synchron erfassen und bewerten. Zusätzlich steht eine FFT-Funktion zur Frequenzanalyse zur Verfügung.
Für Power-Up-Sequenzen in komplexen Systemen – etwa bei Mikrocontrollern mit mehreren Versorgungsschienen – erlaubt das Oszilloskop die gleichzeitige Aufzeichnung aller relevanten Signale. Damit lassen sich zeitliche Abhängigkeiten untersuchen, ohne mehrere Einzelmessungen durchführen zu müssen.
Optional verfügbare Softwaremodule ergänzen das Gerät um Funktionen zur Netzqualitätsbewertung, Ripple-Analyse oder Motordiagnose.
Analyse von Wide-Bandgap-Halbleitern
Mit der zunehmenden Verbreitung von Wide-Bandgap-Halbleitern wie SiC oder GaN steigen auch die Anforderungen an die Signalerfassung im Schaltbetrieb. Diese Bauteile weisen sehr schnelle Übergänge und hohe dv/dt-Werte auf, was eine hohe Bandbreite und geringe Störeinflüsse erfordert.
Die Serie SDS5000X HD bietet für diese Anwendungen eine hohe zeitliche Auflösung. In Verbindung mit den ebenfalls neuen Differenztastköpfen der ODP6000B-Serie (500 MHz und 1 GHz) lassen sich auch schnelle Schaltvorgänge differenziert erfassen. Der hohe Gleichtaktunterdrückungswert (CMRR bis 160 dB bei niedrigen Frequenzen) unterstützt Messungen mit hohem Störanteil und kleinem Signalniveau.
Einordnung
Mit den beiden neuen Oszilloskop-Serien und der dazugehörigen Tastkopftechnologie schließt Siglent eine Lücke im Bereich der Mehrkanal-Messsysteme für leistungselektronische Anwendungen. Die Geräte bieten durchdachte Funktionalität für den Labor- und Prüfstandeinsatz – bei gleichzeitig hoher Signalqualität, flexibler Konfiguration und ausreichender Rechenleistung für die Analyse komplexer Vorgänge.
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