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Asset Intertech

Embedded Instrumentation – die Testtechnologie der Zukunft?

9. Juli 2010, 16:11 Uhr | Nicole Wörner

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Fortsetzung des Artikels von Teil 1

Asset Intertech: Engagement in der Standardisierung sichert die Zukunft

Glenn Woppman, Asset Intertech: »Für viele Unternehmen bestand die Herausforderung in den vergangenen paar Jahren darin, ihr wirtschaftliches Überleben zu sichern. Zeiten des Abschwungs können einer Firma aber auch die Chance eröffnen, ihre internen Strukturen in Ordnung zu bringen, so dass sie nicht nur überleben, sondern sogar wachsen kann, sobald sich Licht am Ende des Tunnels zeigt. Wie so viele Unternehmen haben auch wir den Gürtel in den Zeiten der globalen Wirtschaftskrise enger geschnallt. Gleichzeitig haben wir aber auch die bewusste Entscheidung getroffen, unsere Ressourcen gezielt zu investieren, so dass wir gestärkt für zukünftiges Wachstum aus der Krise hervorgingen.

Wir haben unter anderem Führungsrollen in einer Reihe von Normengremien übernommen, wenn wir der Meinung waren, dass der in Entwicklung befindliche Standard für das weitere Wachstum der eingebetteten Instrumentation wichtig sein könnte. Beispielsweise war einer unserer Cheftechnologen federführend an der Entwicklung des neuen erweiterten Boundary-Scan-Standards IEEE 1149.7 beteiligt. Wir gehen davon aus, dass dieser neue Standard wichtige Auswirkungen auf die Charakterisierung, Validierung und Tests von neuen 3D-Multi-Die-Chips haben wird.

Ein anderer unserer Cheftechnologen engagierte sich als Co-Chairman in der Arbeitsgruppe für die IEEE-P1687-Internal-JTAG-Spezifikation (IJTAG). Dabei handelt es sich um ein Papier, das letztendlich die Steuerung, die Verwaltung, das Scheduling und den Betrieb von Embedded Instrumentation standardisieren wird. Der IEEE-1149.7-Standard wurde vor kurzem ratifiziert und veröffentlicht. Der IEEE-P1687-Standard wird den Erwartungen nach Anfang des nächsten Jahres nachfolgen.

Alle diese Standards werden von zentraler Bedeutung für das Ökosystem sein, das sich rasch um die Embedded Instrumentation herum entwickelt. Wir erwarten, dass dieses Ökosystem weiter wächst, wenn die Lebenszyklusvorteile der Embedded Instrumentation noch stärker zum Tragen kommen. Zum ersten Mal seit den Anfängen der Elektronikindustrie können nämlich mithilfe der Embedded Instrumentation portable Testroutinen entwickelt werden.

Bislang wurden für jede Phase des Lebenszyklus eines Produkts jeweils eigene Validierungs-, Test- und Debugging-Routinen entwickelt. Chip-Debugging- und Charakterisierungs-Vektoren wurden beispielsweise im Zuge des Chipdesigns entwickelt, konnten aber nicht auf die Leiterplattenebene übertragen werden, sobald der Chip auf die Platine aufgelötet war. Und Testroutinen auf Leiterplattebene wanderten nicht mit den Leiterplatten mit, die zu Systemen zusammengebaut wurden. Das wird sich unserer Meinung nach ändern. Validierungs-, Test- und Debugging-Routinen für Embedded Instrumentation, die in einer Phase des Lebenszyklus’ eines Produkts entwickelt wurden, werden mit dem Chip, der Leiterplatte oder dem System in die Folgephasen des Nutzungszyklus übernommen werden. Der Mehrwert, der sich durch die Kosteneinsparungen erzielen lässt, dürfte enorm sein.

Generell sind wir bei Asset Intertech überzeugt, dass es ein großes Potenzial gibt, den gesamten Validierungs-, Test- und Debugging-Prozess mit Mehrwert auszustatten. Berührungslose, Embedded Instrumentation Tools auf Softwarebasis bieten die Chance zur kostengünstigen Verbesserung der Qualität, Zuverlässigkeit und Stabilität von Chips, Leiterplatten und Systemen. Darüber hinaus werden die positiven Resultate für die Hersteller am Ende einen selbstverstärkenden Effekt haben: Produkte mit höherer Qualität sorgen für zufriedenere und loyalere Nutzer, die zu Wiederholungskäufern werden. Die Supportkosten sinken, und es werden weniger Produkte zur Reparatur eingesendet. Letztendlich profitiert also das ganze Unternehmen vom Nutzen, der sich mit effektiveren Validierungs-, Test- und Debugging-Techniken realisieren lässt.«