Durch die Integration von PC-Technologien in HF-Messequipment ergeben sich offensichtliche Vorteile, wie beispielsweise stetige Verbesserungen der Signalverarbeitungsleistung des Messgeräts. Das Moore‘sche Gesetz prophezeit konstante Steigerungen der CPU-Verarbeitungsleistung, und weil darüber hinaus die CPU-Hersteller ihre Prozessortechnologien weiter verbessern, erzielen PC-basierte Messgeräte höhere Messgeschwindigkeiten.
Zusätzlich zur CPU wird in HF-Messgeräten immer häufiger ein weiteres Kernelement des modernen Software-Defined Radio integriert: der FPGA. Obwohl FPGAs in HF-Messgeräten bereits seit mehr als zehn Jahren zum Einsatz kommen, geht der Trend nun immer mehr zu FPGAs, die sich durch den Benutzer des Messgeräts frei programmieren lassen. Damit avanciert das Messinstrument mehr und mehr von einem Gerät mit einer vom Hersteller festgelegten Funktion zu einem vielseitig verwendbaren Instrument einschließlich Steuer- und Regelfunktionen. FPGA-fähige Messgeräte vereinen die Echtzeit-Steuer- und Regelmöglichkeiten des FPGAs mit den zeitkritischen Aufgaben beim Testen. Beispielsweise kann in Testanwendungen, bei denen eine digitale Schnittstelle für die Gerätesteuerung erforderlich ist, ein FPGA-fähiges Messgerät die digitale Gerätesteuerung mit den HF-Messungen synchronisieren. So führen solche vom Anwender frei programmierbaren FPGAs zu neuen Testmethoden, die letztlich in einer bis zu 100-mal kürzeren Testzeit resultieren.
Fazit
Die Integration vieler der aus der SDR-Architektur kommenden Ansätze in heutiges HF-Messequipment hat zu einer neuen Messgerätegeneration geführt, bei der die Grenze zwischen Messgeräte- und Embedded-Plattformen aufgehoben ist. Mehr noch: Dadurch, dass sich die Eigenschaften von Messgeräten vollständig per Software festlegen lassen, wird immer mehr HF-Messequipment in Embedded-Anwendungen eingesetzt. Die Möglichkeit, die Verhaltensweise des HF-Messgeräts komplett zu bestimmen und auf die Anwendung maßzuschneidern ist eine wesentliche Voraussetzung, um die Herausforderungen der nächsten Generation im Bereich Test zu bewältigen.