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Chip-Design-Produktivität mit Hilfe von Design Metrics optimieren

Flaschenhälse beim Chip-Design finden

18. August 2009, 14:52 Uhr | Max Maier

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Fortsetzung des Artikels von Teil 4

Flaschenhälse beim Chip-Design finden

Des Weiteren lassen sich nun selbst die verschiedensten Chip-Design-Projekte miteinander vergleichen: Einzelne Entwicklungsabteilungen können nun auch Vergleiche z.B. über ihre Effizienz, die Qualität der Ergebnisse und die Implementierungs-Produktivität untereinander anstellen und diese gegebenenfalls gezielt und systematisch verbessern. Nicht zuletzt ist es damit auch möglich, Trends zu erkennen: Mit kleineren Geometrien nimmt zum Beispiel der Aufwand für „Signal Integrity“, „Design for Manufacturing“ (DFM) oder „Yield“ (DFY) deutlich zu. Anhand dieser Daten lassen sich die Auswirkungen quantifizieren.

Neben der Implementierung ist natürlich auch die Verifikation eine wichtige Aufgabe beim Chip-Design. Der Aufwand hierfür ist in der Regel sogar höher als bei der Implementierung. Deshalb wäre es wünschenswert, auch hierfür Messdaten über die Produktivität, die Qualität der Ergebnisse und den dafür notwendigen Zeitaufwand zu erfassen. SPS hat deshalb bereits begonnen, eine entsprechende Infrastruktur zur Erfassung der Verifikations-Messdaten im Synopsys Pilot Design Environment einzubauen, um in Zukunft auch diese Messdaten erfassen zu können. go