Für jede Anwendung das passende System

Bildverarbeitungssysteme inspizieren Solarenergie-Komponenten

1. Dezember 2010, 11:13 Uhr | Andreas Knoll
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Fortsetzung des Artikels von Teil 2

Vision-Sensor zur Solarzellen-Inspektion

Auch wenn sich Schmitt skeptisch zeigt, was den Einsatz von Vision-Sensoren zur Qualitätskontrolle von Solar-Wafern anbelangt: Er findet statt, und es sind darauf spezialisierte Geräte auf dem Markt. SensoPart Industriesensorik hat vor kurzem ein entsprechendes Gerät vorgestellt: den eigens für die Photovoltaikindustrie entwickelten Vision-Solarsensor FA 46: »Er ist in seinem Preissegment der einzige Sensor am Markt, der jede einzelne Zelle präzise vermisst und so auch besonders kleine Kantenausbrüche zuverlässig erkennt«, betont Claude Kuhnen, Marketing Manager von SensoPart. »Als standardisierte Branchenlösung auf Basis einer kompakten Vision-Kamera bietet er präzise Messtechnik zum günstigen Sensorpreis.«

Das 45 x 45 x 64 mm große Gerät ist leicht einzurichten, weil sämtliche für die Wafer- und Zellinspektion relevanten Funktionen, von der Erkennung der Wafer-Geometrie über die Lokalisierung von Defekten bis hin zur Einstellung von Verarbeitungsgeschwindigkeit und Prüfgenauigkeit, bereits vorkonfiguriert sind. Für die Konfiguration sind keine Bildverarbeitungs- Kenntnisse erforderlich; der Benutzer muss im Wesentlichen nur Prüfkriterien wie die Toleranzen für Größe, Position und Drehlage des Wafers sowie die Größe und Anzahl der erlaubten Beschädigungen der Wafer-Kontur eingeben, um seine Anwendung betriebsbereit zu machen.

Der Vision-Sensor erkennt selbstständig verschiedene Wafer- bzw. Zellformen (z.B. monokristallin / mit Fase und polykristallin / ohne Fase), so dass ein Einlernen von Konturen oder Mustern nicht erforderlich ist. Nur bei der Erstinbetriebnahme wird er zur Maßhaltigkeitsprüfung einmalig mit Hilfe eines Referenzmusters kalibriert. Im laufenden Betrieb vermisst er unabhängig von der Drehlage jeden Wafer bzw. jede Solarzelle einzeln und erkennt dabei Kantendefekte auch bei Maßabweichungen eines Wafers bzw. einer Zelle.

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