Integration von In-Circuit- und Boundary-Scan-Test
Digitaltest und JTAG Technologies kooperieren
Digitaltest und JTAG Technologies haben ihre Zusammenarbeit im Bereich Testlösungen für elektronische Baugruppen bekannt gegeben. Im ersten Schritt der Kooperation wurde nun JTAGs Boundary-Scan-Testverfahren in die In-Circuit-Testsysteme der…