Produkt

Halbleitertestsysteme

OMRON G3VM-21MT

MOSFET Solid-State-Relay mit geringem Leckstrom

OMRON bewirbt das MOSFET Relais G3VM-21MT mit einem extrem niedrigen Leckstrom von nur einem Milliardstel Ampere besonders für den Einsatz in Testgeräten für Halbleiterbauelementen als Alternative zu mechanischen Relais.

Reaktion auf Messe- und Konferenzabsagen

Unternehmen veranstalten eigene Online-Messen

Auf internationale Messen und Konferenzen wollen Unternehmen auch in Zeiten des…

Programmierbare Stromversorgung

SEMI F47 kompatibles Netzteil für die Halbleiterbranche

Der SEMI F47-Standard regelt welche Spannungsabfälle Stromversorgungen in der…

IEDM 2019

»Die Skalierung geht mindestens zehn Jahre weiter«

Die Fortschritte in der Lithographie zur Fertigung von integrierten Schaltungen verlängern…

5G-Mobilfunk

Konformitätstests für Geräte und Basisstationen

Die kommerzielle Einführung von 5G-Endgeräten hat begonnen. Aber wo steht der…

Advantest / Thermische Validierung

Kammerbasierter SSD-Tester

Solid-State-Laufwerke (SSDs) werden oft in extremen thermischen Umgebungen eingesetzt.…

Spea

Herausforderungen im Baugruppentest meistern

Elektronische Bauelemente werden immer kleiner, mehr und mehr LEDs werden in Baugruppen…

Statt SPSen

Steuerrelais als Alternative zu kleinen SPSen

Mit dem Steuerrelais easyE4 bietet Eaton bei Maschinen geringer bis mittlerer Komplexität…

Sensata Technologies

3-Phasen-Halbleiterrelais für Industriestromversorgungen

Die neuen UL-, VDE- und CE-zertifizierten 3-Phasen-Halbleiterrelais DR67 und PM67 von…

Tektronix / Doppelpulstest

Wide-Bandgap-Halbleiter einfach prüfen

Für den Arbiträr-Funktionsgenerator AFG31000 hat Tektronix ein Software-Plug-in…