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Halbleitertestsysteme

Cranfield University

Mit gepulster Thermografie gefälschte ICs zerstörungsfrei finden

Nicht verifizierte oder gefälschte ICs können zu Fehlfunktionen sicherheitskritischer Systeme führen und damit deren Zuverlässigkeit stark verringern. Forscher der britischen Cranfield University haben eine schnelle, zerstörungsfreie Methode vorgestellt, die auf gepulster Thermografie basiert.

Keysight-Personalia

CTO verabschiedet sich in den Ruhestand, neuer COO kommt

Der Messtechnik-Hersteller Keysight vermeldet Änderungen in der Führungsspitze: Satish...

Dimensional Research Studie

Probleme mit Messausrüstung kommen Unternehmen teuer zu stehen

Die Schattenseite der Testautomatisierung sind Fehler im Testablauf. Bremsen Sie den...

Cloud-basierte Big-Data-Analyse

Advantest beteiligt sich an PDF Solutions

Für rund 65,2 Millionen US-Dollar hat Advantest Unternehmensanteile an PDF Solutions,...

Siemens kauft UltraSoC

Lifecycle-Management für SoCs

Mit dem Kauf will Siemens ihr Xcelerator-Portfolio ergänzen und ein besseres...

Auf kleinsten Skalen messen

Optiken per Streulicht analysieren

Ob für die Halbleiterlitografie oder bei der Detektion von Gravitationswellen: Auf...

Wave Scale RF-Kanalkarten

Neue Tests für Wireless-Communication-Halbleiter

Für Wi-Fi 6E-, Sub-8-GHz-, 5G- und IoT-Halbleiter für drahtlose Kommunikation bietet...

Boundary-Scans ohne JTAG-Schnittstelle

Testabdeckung Erhöhen

Nicht alle Halbleiterchips unterstützen Boundary-Scans. Über Emulation lassen sich...

Im Dienst der Pandemie-Bekämpfung

Das Motto lautet: Priorisierung

Von Analog Devices bis Würth Elektronik eiSos reicht aktuell die Liste der Bauelemente-...

Halbleiterfertigung Made in Germany

Hidden Champions der Chip-Industrie

Um Chips zu fertigen, sind ganz spezielle Maschinen erforderlich. Zu den bekanntesten...