Produkt

Halbleitertestsysteme

Kryogener On-Wafer-Prober

Qubit-Bauelemente optimieren und skalieren

Mit dem neuen kryogenen On-Wafer-Prober können Forscher des Fraunhofer IAF die Funktionsweise von Quantenbauelementen besser verstehen, die auf Halbleiter-Quantenpunkten und -Quantentöpfen sowie Supraleitern basieren.

National Instruments and SET go together

»It's a 'perfect fit' for everyone involved«

After several years of strategic minority participation, NI acquired SET GmbH, a...

Globale Wachstumsstrategie im Blick

Bosch eröffnet neues Halbleiter-Testzentrum

Bosch setzt seine Expansionspläne im Bereich der Halbleiter weiter fort. In Penang,...

Modular optimierte Produktionsprozesse

KI-gestützte Echtzeit-3D-Oberflächenanalyse

Schnell, genau, flexibel – das sind die Prüfanforderungen in der Elektronikfertigung....

CT plus automatische Analyse-Software

Weniger Ausschuss in der Batteriefertigung

Objektive, zuverlässige und wiederholbare Prüfergebnisse im Bereich der...

»Flying Heads« in der Batteriefertigung

Batterie-Testsystem für alle Prüffälle

Mit dem Batterietester T100BT hat Spea ein modulares System entwickelt, das auf einer...

NI und SET gehen gemeinsame Wege

»Es ist ein ‘Perfect Fit‘ für alle Beteiligten«

Nach mehrjähriger strategischer Minderheitsbeteiligung hat NI im März die SET GmbH,...

Künstliche Intelligenz in der Produktion

Welche Rolle spielt KI in der Inspektionstechnik?

Es gibt wohl kaum ein Marktsegment, das heutzutage am Stichwort Künstliche Intelligenz...

Debuggen und Testen

Vereinfachung für große Testfarmen

Mit dem Test Farm Power Adapter, der in Kombination mit dem J-Link Pro von Segger...

Revolutionäres DRAM-Testboard

DRAM-Testkosten drastisch reduzieren

Den Prottypen des ersten kostengünstigen, stromsparenden und kleinformatige Testsystems...