Produkt

Halbleitertestsysteme

Neue Testmethode von ERS

Testkosten für GPUs und KI-Chips fallen drastisch

Erstmals werden jetzt komplexe ICs unter Spannung und mit Temperatur nicht erst im Endtest, sondern auf Wafer-Ebene getestet. Das erhöht die Ausbeute und reduziert die Kosten deutlich.

New Group of Memory Test Products

Advantest Targets NAND Flash/NVM Market

Advantest launches three additions to its suite of memory test products. The offerings…

Halbleiterrelais

Isolationsüberwachung in HV-Anwendungen

In Elektrofahrzeugen, Photovoltaikanlagen und Energiespeichersystemen ist es durch den…

Rafi setzt auf Spea-Tester

»Für jede Produktionsphase das passende Testverfahren«

Electronics Engineering and Manufacturing Services, kurz E2MS - damit will sich Rafi im…

Interview mit Dr. Thomas Däubler, MCD

»Wir werden das Unternehmen in die nächste Phase führen«

Mit Blick auf eine verantwortungsvolle Nachfolgeregelung übergibt Bruno Hörter, der vor 40…

Interview mit Bruno Hörter, MCD

»Es gab so viele Meilensteine, dass man sie kaum aufzählen kann«

Bruno Hörter, der vor 40 Jahren die MCD Elektronik GmbH gründete und seither führt,…

Advertorial

Bis zu 40% effizienter - TOSHIBA SIC-MOSFETs im 4-Pin Gehäuse

TOSHIBA hat seine SiC-MOSFETs der 3. Generation um Derivate im 4-Pin-Gehäuse erweitert. …

Testing High-End Automotive SoCs

Active Thermal Control for Advantest Handler

The new Active Thermal Control (ATC) option for Advantests M4841 high-volume device…

Gestalt Robotics

KI-basierte Inspektion mit Cobot

Eine vollautomatische, KI-unterstützte Inspektionslösung für die Montage- und…

Kryogener On-Wafer-Prober

Qubit-Bauelemente optimieren und skalieren

Mit dem neuen kryogenen On-Wafer-Prober können Forscher des Fraunhofer IAF die…