Produkt

Erhöhte Testabdeckung

XJTAG und Flying Test Systems vereinbaren Zusammenarbeit

Die beiden britischen Prüf-Unternehmen XJTAG und Flying Test Systems haben eine Zusammenarbeit vereinbart. So soll unter anderem die gemeinsame Nutzung von Flying-Probe-Testern von Flying Test Systems mit der Boundary-Scan-Funktion von XJTAG…

National Instruments‘ NIWeek 2017

Neuer Termin, neuer CEO, viele Highlights

Zwischen dem 22. und dem 25. Mai veranstaltete National Instruments in diesem Jahr die…

Management automatisierter Datenanalysen

Wie hilft ein Testprozess-Managementsystem?

Testprozess-Managementsysteme erleichtern die Verwaltung und automatisierte Ausführung von…

Inline-Test

AOI und LED-Test kombiniert

Bei LEDs sind die Qualitätsanforderungen besonders hoch, insbesondere in der…

Test-Automatisierung

Board-Test made by FPGA

Field Programmable Gate Arrays bieten Vorteile in Anwendungen mit Multi-Core-Fähigkeiten…

National Instruments

Beschleunigung der 5G-Forschung

National Instruments stiftet NYU Wireless Entwicklungswerkzeuge im Wert von Einer…

MCD Elektronik liefert nach Kanada

End-of-Line Tester für Klappensteller in Antrieben

MCD Elektronik entwickelte für einen Hersteller kundenspezifischer Antriebstechnik in…

NI erweitert USRP-RIO-Reihe

Prototypenerstellung für Software-Defined Radio erleichtern

National Instruments stellt zwei neue Modelle seiner USRP-RIO-Plattform vor, den…

Göpel Electronic

Prüftechnologie-Forum zur Qualitätssicherung

Zum zweiten Mal veranstaltet Göpel Electronic das Prüftechnologie-Forum im Weimar. Am 04.…

Automatisiertes Validierungs-System

Die nächste Ebene der MCU-Validierung

Die funktionale Validierung von Mikrocontrollern kann mit einem automatisierten, modularen…