Produkt

Baugruppen-/Leiterplattentest

Advantest

Integrated Test Cell to Optimize Yield for Wide-Bandgap Devices

Advantest announces an integrated test cell designed to maximize die-level test yields for wide-bandgap (WBG) devices essential to power semiconductors. The Advantest Known Good Die (KGD) Test Cell combines the company’s CREA MT series power device…

Orientierungshilfe im Anbietermarkt

Messtechnik-Marktübersichten im Überblick

Interaktiv, intuitiv, vielseitig, detailliert – die Beschreibungen für die…

V93000 EXA Scale Platform

New RF IC Test Card for Advantests SoC Tester

Advantest introduces the Wave Scale RF20ex instrument for the V93000 EXA Scale SoC tester…

KI-gestützte optische Inspektion

Mittels KI PCB-Fehler im Nanobereich finden

Mithilfe von Machine Learning und KI-basierten Softwaresystemen lassen sich…

Von der Entwicklung bis zur Produktion

Durchgängige Embedded-JTAG-Solutions-Teststrategie

Der Übergang von der Baugruppen-Entwicklung zur -Produktion ist oft schwierig. Zu…

Von Entwicklung über Fertigung bis QS

Durchgängiges Prüfkonzept für Batterie- und Brennstoffzellen

Für eine hohe Effizienz und Langlebigkeit von Batterien und Brennstoffzellen müssen…

ETH Zürich, MPI und Hilpert Electronics

Wafer-Testsysteme im Forschungseinsatz

Das Institut für Integrierte Systeme der ETH Zürich setzt für die akademische…

Schnelle, hochpräzise 100-%-Prüfungen

KI-Booster für die Wafer-Inspektion

Mit seiner Inspectra-Serie setzt Toray Engineering neue Maßstäbe bei der Wafer-Inspektion.…

Mit Innovationspreis ausgezeichnet

Engmatec erhält „TOP-100“-Award

Auf dem Deutschen Mittelstands-Summit war es endlich so weit: Ranga Yogeshwar überreichte…

Für höhere Testabdeckung und -tiefe

Interaktive Flying-Probe-/Boundary-Scan-Tests

Acculogic und Göpel Electronic haben ihr Basis-Integrationspaket zur Kombination des…