Produkt

Baugruppen-/Leiterplattentest

© ifm

Misst Höhenprofile von 150 bis 300 mm

Konturerfassung für Inline-Qualitätskontrollen

Für die Qualitätssicherung direkt im Prozess hat ifm den Kontursensor PMD Profiler entwickelt. Im Vergleich zu anderen Methoden ist er einfach einzurichten und unempfindlich gegenüber Störlicht.

/fileadmin/sitedesign/Resources/Public/Svg/Brands/MarktTechnik.svg Logo
© Steinmeyer

Patentierte Gerätearchitektur

Hochpräzise Positionierung auch bei variablen Lasten

Müssen nacheinander Objekte unterschiedlicher Gewichtsklassen vermessen werden, kommen…

/fileadmin/sitedesign/Resources/Public/Svg/Brands/MarktTechnik.svg Logo
© Göpel Electronic

Baugruppeninspektion

Einheitliches Austauschformat im Fertigungsprozess

Mit dem Ziel der Optimierung von Fertigungsprozessen haben Göpel Electronic und einige…

/fileadmin/sitedesign/Resources/Public/Svg/Brands/MarktTechnik.svg Logo
© Oliver Dietze, Universität des Saarlandes

KI erkennt auch unbekannte Fehler

Anlagenüberwachung mit Novelty Detection

Ein neues Wartungssystem macht Sensoren an Industrieanlagen smart: Es verknüpft Künstliche…

/fileadmin/sitedesign/Resources/Public/Svg/Brands/MarktTechnik.svg Logo
© Advantest

Cloud-basierte Big-Data-Analyse

Advantest beteiligt sich an PDF Solutions

Für rund 65,2 Millionen US-Dollar hat Advantest Unternehmensanteile an PDF Solutions,…

/fileadmin/sitedesign/Resources/Public/Svg/Brands/MarktTechnik.svg Logo
© Göpel Electronic

Neue 3D-AOI-Serie von Göpel Electronic

Volle 3D-Funktionalität auch für begrenzte Budgets

Mit zwei neuen Systemen für die automatische optische 3D-Inspektion adressiert Göpel…

/fileadmin/sitedesign/Resources/Public/Svg/Brands/MarktTechnik.svg Logo
© GMA-Werkstoffprüfung GmbH

Röntgenprüfungen beschleunigt

Werkstoffprüfungen zehn Mal schneller

Gegenüber bislang filmbasierten Überprüfungen von Schweißverbindungen ist das neue…

/fileadmin/sitedesign/Resources/Public/Svg/Brands/MarktTechnik.svg Logo

Boundary-Scans ohne JTAG-Schnittstelle

Testabdeckung Erhöhen

Nicht alle Halbleiterchips unterstützen Boundary-Scans. Über Emulation lassen sich…

/fileadmin/sitedesign/Resources/Public/Svg/Brands/Elektronik.svg Logo
© Fraunhofer FIT

Fraunhofer FIT

AI Optimizes Design of PCBs

As applications become more and more diverse and complex, the demands on design and…

/fileadmin/sitedesign/Resources/Public/Svg/Brands/Elektronik.svg Logo
© Fraunhofer FIT

Fraunhofer FIT

KI optimiert Design von Leiterplatten

Da die Anwendungen immer zahlreicher und komplexer werden, nehmen die Anforderungen an…

/fileadmin/sitedesign/Resources/Public/Svg/Brands/Elektronik.svg Logo