Mit der V6000-Testerfamilie von Verigy lassen sich Flash- und DRAM-Speicher auf ein und derselben ATE-Plattform testen. Die V6000-Testerfamilie deckt dabei den gesamten Testprozess von Halbleiterspeichern ab.
Advantest Kyushu Systems, eine Tochtergesellschaft der Advantest Corporation, hat das…
Omron stellt auf der electronica ein völlig neues AXI-Konzept (Röntgeninspektion) vor: Das…
Das Boundary-Scan-Verfahren mit seinen vielfältigen Anwendungsmöglichkeiten zum…
Ein neuer Vektorsignalgenerator von Rohde & Schwarz kann mit Eigenschaften aufwarten, die…
Zwei Leiterplatten oder Baugruppen gleichzeitig nimmt der pneumatisch betriebene…
Die Elektronikfertigungs- und Messtechnikspezialisten von IPTE haben ein Testsystem…
Göpel electronic hat seine CION-Modulfamilie um ein I/O-Modul erweitert: Das CION…
Phoenix|x-ray hat zwei Computertomographie-Anlagen an das Deutsche Zentrum für Luft- und…
Bis zu 128 DDR3-SDRAM-Bausteine parallel prüft der neue Memory-Tester T5503 von Advantest.
