Halbleiter-Charakterisierungssystem für Solarzellentest erweitert
Keithley hat sein Halbleiter-Charakterisierungssystem 4200-SCS um eine Reihe an Hardware-, Firmware- und Software-Updates erweitert, darunter neue Testbibliotheken für den Solarzellentest.
Das Upgrade für die Keithley Test Environment Interactive (KTEI) V7.2 beinhaltet neun neue Testbibliotheken für Solarzellen, einen erweiterten Frequenzbereich für die C-V-Messfunktion (Kapazität-Spannung) des Systems und eine Unterstützung für das neue Instrumenten-Chassis des Modells 4200-SCS mit neun Steckplätzen.
Die neuen in KTEI V7.2 enthaltenen Testbibliotheken erweitern die Möglichkeiten des Halbleiter-Charakterisierungssystems 4200-SCS auf I-V- und C-V-Tests und ermöglichen Messungen des spezifischen Widerstands für Solarzellen. Derartige Messungen gewinnen durch das wachsende Interesse und der staatlichen Förderung von alternativen Energien immer mehr an Bedeutung.
Das Software-Upgrade unterstützt darüber hinaus auch DLCP-Messungen (Drive-Level Capacitance Profiling), ein neues Testverfahren für Solarzellen, das mit den bislang erhältlichen Testsystemen nur schwierig durchführbar war. DLCP-Messungen liefern Informationen zur Fehlerdichte bei Dünnschicht-Solarzellen.
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