Testsysteme

AXI- und AOI-Lösungen von Omron

Omron stellt auf der electronica ein völlig neues AXI-Konzept (Röntgeninspektion) vor: Das vollautomatische VT-X-System übermittelt Taktzeiten von nur 500 ms pro Projektion, indem es zwei unterschiedliche CT-Algorithmen verwendet.

Vielfältiger Funktionsumfang von Hard- und…

Neue Möglichkeiten mit Boundary Scan

Das Boundary-Scan-Verfahren mit seinen vielfältigen Anwendungsmöglichkeiten zum…

Vektorsignalgenerator: Oberklasse-Technik in die Mittelklasse gebracht

Ein neuer Vektorsignalgenerator von Rohde & Schwarz kann mit Eigenschaften aufwarten, die…

Adapter für zwei Prüflinge gleichzeitig

Zwei Leiterplatten oder Baugruppen gleichzeitig nimmt der pneumatisch betriebene…

Schneller Echtzeit-Test für Prüflinge mit hohem pneumatischen oder hydraulischen Druck

Die Elektronikfertigungs- und Messtechnikspezialisten von IPTE haben ein Testsystem…

Boundary Scan: Testmodul für DIMM240-Interfaces

Göpel electronic hat seine CION-Modulfamilie um ein I/O-Modul erweitert: Das CION…

Kompaktes CT-System zur 3D-Analyse von Hochleistungsverbundstoffen

Phoenix|x-ray hat zwei Computertomographie-Anlagen an das Deutsche Zentrum für Luft- und…

Schneller Paralleltest von DDR3-SDRAMs

Bis zu 128 DDR3-SDRAM-Bausteine parallel prüft der neue Memory-Tester T5503 von Advantest.

AOI-System für Solarzellen

Viscom stellt erstmals ein optisches Inspektionssystem (AOI) für die Charakterisierung von…

Boundary Scan: Einstieg mit kostenloser Lernsoftware

Göpel electronic, ein international tätiger Anbieter von von JTAG/Boundary…