Dieses Vefahren soll Laufzeitverzögerungen eliminieren, die aufgrund von Kabellängen und Bauteil-Schaltzeiten zustande kommen. Damit lässt sich der Scan-Controller mit maximaler Taktfrequenz betreiben ohne dass noch weitere zusätzliche Hardware nahe der JTAG-Schnittstelle notwendig ist. (Bild 3) Dadurch können Kabellängen bis zu fünfzehn Meter bei gleich bleibender Taktfrequenz überbrückt werden. Ohne diese Verfahren muss entweder die Taktrate reduziert werden, was wiederum die Verlängerung der Test- und Prüfzeit zur Folge hat, oder es ist zusätzliche Hardware nahe dem Prüfling nötig.
Durch Adaptive Clocking bietet sich die Lösung von Acculogic für die einfache Integration in allerlei Testsysteme an. Das reicht vom klassischen ICT über die Funktionseinheit als Stand-alone-Lösung bis hin zur Integration in die bekannten Flying-Prober. Je nach Testsystemhersteller stehen dafür spezielle Integrationspakete zur Verfügung oder es werden Treiber- und Messfunktionen der Testsysteme selbst für den Test mit genutzt.
Alle Bemühungen haben nur ein Ziel: die Testabdeckung in Richtung einhundert Prozent bringen. Das gilt schon für Prototypen und Muster. Denn durch das Erkennen und Beseitigen von Fehlern im Vorfeld läuft der Fertigungsprozess meist störungsfrei. Die Fragen nach Prozesssicherheit und Qualitätssicherung stehen im Mittelpunkt. Das spitzt sich letztlich auf die Frage nach der richtigen Teststrategie zu. Zusätzlicher Nebeneffekt: Kosten und Komplexität der erforderlichen Testadapter lassen sich deutlich senken.