Oszilloskope
Neue Trigger- und Dekodier-Optionen
Mit einer ganzen Reihe neuer Trigger- und Dekodier-Optionen für die Oszilloskop-Familien R&S RTM, R&S RTE und R&S RTO unterstützt Rohde & Schwarz völlig unterschiedliche Anwenderkreise bei der Designverifikation, Inbetriebnahme und Fehlersuche.
Für Anwender im Bereich Aerospace & Defence bietet der Münchner Elektronikkonzern für alle Geräteserien jeweils neue Optionen für MIL1553- und ARINC-Protokolle an.
Mit zwei ebenfalls neuen Optionen für die Analyse von MIPI-RFFE- sowie von USB 1.0/1.1- und -2.0-Schnittstellen erweitern sich die Einsatzmöglichkeiten der High-Performance-Oszilloskope R&S RTO für Entwickler im Bereich der mobilen Kommunikation und von Embedded Designs.
User im Automotive-Markt profitieren von der Erweiterung der Konformitätstests um die Option für BroadR-Reach.
Darüber hinaus hat Rohde & Schwarz mit einer neuen Option die maximale Speichertiefe des Universal-Oszilloskops R&S RTM auf 460 MSample pro Kanal erweitert. Der segmentierte Speicher ist besonders dann hilfreich, wenn es um die lückenlose Analyse von Datensequenzen mit langen Ruhephasen geht, beispielsweise bei gepulsten Signalen oder Datenpaketen von seriellen I2C-Bussen.
Rohde & Schwarz auf der electronica 2014: Halle A1, Stand 307
Für Anwender im Bereich Aerospace & Defence bietet der Münchner Elektronikkonzern für alle Geräteserien jeweils neue Optionen für MIL1553- und ARINC-Protokolle an.
Mit zwei ebenfalls neuen Optionen für die Analyse von MIPI-RFFE- sowie von USB 1.0/1.1- und -2.0-Schnittstellen erweitern sich die Einsatzmöglichkeiten der High-Performance-Oszilloskope R&S RTO für Entwickler im Bereich der mobilen Kommunikation und von Embedded Designs.
User im Automotive-Markt profitieren von der Erweiterung der Konformitätstests um die Option für BroadR-Reach.
Darüber hinaus hat Rohde & Schwarz mit einer neuen Option die maximale Speichertiefe des Universal-Oszilloskops R&S RTM auf 460 MSample pro Kanal erweitert. Der segmentierte Speicher ist besonders dann hilfreich, wenn es um die lückenlose Analyse von Datensequenzen mit langen Ruhephasen geht, beispielsweise bei gepulsten Signalen oder Datenpaketen von seriellen I2C-Bussen.
Rohde & Schwarz auf der electronica 2014: Halle A1, Stand 307
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