Das isolierte Tastkopfsystem R&S RT-ZISO von Rohde & Schwarz bietet laut Hersteller eine noch nie dagewesene Kombination von Genauigkeit, Empfindlichkeit, Dynamikbereich und Bandbreite für Leistungselektronik-Designs auf Basis von SiC- und GaN-Halbleitern mit großer Bandlücke (Wide Bandgap, WBG).
Damit eignet sich das Tastkopfsystem ideal für Anwendungen wie Schaltanalysen von Leistungswandlern, Doppelpulstests, potenzialfreie Messungen, Shunt-Messungen, Wechselrichter-Designs und Motorantriebsanalysen.
Es ermöglicht präzise differenzielle Messungen von bis zu ±3 kV an Referenzspannungen von ±60 kV mit einer Anstiegszeit von <450 ps. Es unterdrückt schnelle Gleichtaktsignale, die genaue Messungen verzerren und stören können. Die Power-over-Fiber-Architektur trennt den Prüfling galvanisch vom Messaufbau und erzielt ein wesentlich höheres Gleichtaktunterdrückungsverhältnis (CMRR) als konventionelle Differenzialtastköpfe.
Es ergänzt perfekt die Oszilloskope der Serien MXO 4, MXO 5 und MXO 5C von Rohde & Schwarz, weil es dank der hardwarebasierten Beschleunigung des Oszilloskops sowohl im Zeit- als auch im Frequenzbereich Messungen mit der aktuell weltweit höchsten Erfassungsrate ermöglicht.