4-Achsen-IC-Scanner
Für die Messung hochfrequenter Nahfelder über integrierten Schaltkreisenausgelegt ist der neue IC-Scanner von Langer EMV-Technik. Je nach verwendeter ICR-Mikronahfeldsonde lassen sich Magnetfelder oder elektrische Felder von 50 bis 100 µm detektieren. Zur genauen Bestimmung der Richtung des magnetischen Feldes kann die Sonde zusätzlich automatisch gedreht werden.
Für Messungen über kleinen Baugruppen ist der IC-Scanner optional auch mit dem Universalhalter UH-DUT und der Sondenhalterung SH 01 konfigurierbar. Mit wenigen Handgriffen ist der IC-Scanner für ESD-/EFT-Störfestigkeitsuntersuchungen von integrierten Schaltkreisen vorbereitet.
Langer EMV-Technik, Halle C2, Stand 402, www.langer-emv.de